您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
二手電鏡在科學研究領(lǐng)域具有重大作用
閱讀：413 發(fā)布時間：2022-4-12
二手電鏡是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段，采用大樣品室的半內(nèi)透鏡設計，卻能達到超高分辨率，主要用于對材料的微觀形貌、組織和成分進行有效分析。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質(zhì)間的相互作用，來激發(fā)各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。新式的掃描電子顯微鏡的分辨率可以達到1nm；放大倍數(shù)可以達到30萬倍及以上連續(xù)可調(diào)；并且景深大，視野大，成像立體效果好。
此外，掃描電子顯微鏡和其他分析儀器相結(jié)合，可以做到觀察微觀形貌的同時進行物質(zhì)微區(qū)成分分析。掃描電子顯微鏡在巖土、石墨、陶瓷及納米材料等的研究上有廣泛應用。因此掃描電子顯微鏡在科學研究領(lǐng)域具有重大作用。
二手電鏡儀器特點：
1、新型物鏡采用的ExB設計。使用單檢測器和超級ExB可以分別收集和分離單純二次電子、混合二次電子及背散射電子的信號。
2、1KV低加速電壓，不使用減速功能，可保證有2.0nm的分辨率。
3、兩種樣品臺可選：I型50mmx50mm標準樣品臺或Ⅱ型110mmx110mm大樣品臺。
4、包括磁懸浮渦輪分子泵在內(nèi)的*的真空系統(tǒng)。
5、光闌自清潔技術(shù)，避免了光闌的污染。
可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號，實現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測；結(jié)合選配的STEM探測器，還可以實現(xiàn)明場像和暗場像的觀測；此外在半導體應用中，還可以安裝EBIC探測器，采集感生電流圖像，極大豐富了信號的采集，對樣品的信息的收集達到了新的高度。