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超聲波分辨率測(cè)試試塊ASTM RA型

注釋1-材料使用規(guī)定材料。

注釋2-表面光潔度;“a"表面的Ra值不高于32pin(0.8微米)。其他表面的Ra值不高于為63uin(1.6微米)。

注釋3-3/64英寸，平底孔直徑(d…d6)與表面垂直，偏差不超過(guò)1°;FB表面應(yīng)全部上涂層，光滑;測(cè)試孔應(yīng)清潔、干燥、阻寒，留有最小為0.04英寸(1毫米)的氣隙。

注釋4-顯示圖例(或米制等值)應(yīng)按18英寸(3毫米)深度鐫刻，并高于鄰近指示位置。注釋 5-測(cè)試塊應(yīng)按說(shuō)明進(jìn)行陽(yáng)極氧化，并電鍍。

注釋6-可選斷點(diǎn)支撐定位:進(jìn)入測(cè)試塊的附件不應(yīng)超過(guò)1/4英寸(6毫米)。

規(guī)格表

US常用測(cè)試塊(英寸) 度量塊(毫米)

圖例 尺寸 公差 尺寸 公差

8.00 0.02 200.0 0.5

9.30 0.02 82.5 0.5

2.00 0.02 50.0 0.5

1.00 0.02 25.0 0.5

4.00 0.02 100.0 0.5

1.00 0.02 25.0 a5

1.00 0.02 25.0 0.5

aa 0.0469 0.0005 1.2 0.01

B 0.100 0.005 2.5 0.1

B, 0.200 0.005 5.0 01

0.900 0.300 0.500 0.005 0.005 0.005 12.5 7.5 7.5 01 0.1 a.1

F

F 0.700 0.005 17.5 Q1

圖X11RA型測(cè)試塊

超聲波分辨率測(cè)試試塊ASTM RA型