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• 產品介紹：
ZEM20pro臺式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達3nm。自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺，滿足不同實驗及檢測需求。
• 產品特色：
▲ 易用性強
▲ 兼容擴展性強
▲ 高性價比
▲ 多級防震
▲ 多種成像模式
▲ 高分辨觀察
• 實拍案例：
主要指標 | ZEM20 Pro |
環境要求 | AC 220V，50Hz，1kW，無需減震臺 |
加速電壓 | 3kV~20kV連續可調，1kV步進 |
電子槍 | 單晶燈絲 |
放大倍數 | 360000x |
分辨率 | 3nm |
探測器 | 二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀(選配) |
樣品臺 | 兩軸：X:60mm Y：55mm |
樣品容納大小 | XY可自由移動：105*87*51.5mm靜止：165*122*51.5mm |
減速模式 | 選配(0-10kv樣品臺電壓減速) |
成像模式 | 視頻模式：512x512像素，無需小窗口掃描；快掃模式：512x512像素 |
導航功能 | 光學相機導航，艙內攝像頭，可實時觀察樣品艙內情況 |
自動功能 | 自動亮度對比度、自動聚焦、大圖拼接 |
尺寸 | 主機：650 × 370 × 642(mm) |
拓展功能 | 兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（TEC冷臺、加熱臺、拉伸臺等） |
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