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這個視頻介紹了CPS納米粒度分析儀在低密度樣品下的分析過程。差速沉淀法過去一般用于測量密度大于分散介質液體密度大于分散介質液體密度的顆粒，CPS開發了一項新的Patent技術（US Patent5786898）.很多常規的差速沉淀法很難或者不可能分析的材料（例如油乳液、蠟乳液、粘性乳液或脂質體），現在可以方便的使用CPS進行分析，而且精度很高。

CPS系統使用已知的標定顆粒進行標定，與美國國家標準和技術研究院(NIST)相兼容的標準保證了分析結果的一致性。使用內標法，也即把已知標定顆粒與待分析樣品相混合，所得的峰值結果可以達到±0.25%的精度。

CPS開發了一種特殊的圓盤設計使得在分析過程中可以調節圓盤的轉速，而不會對沉降液體產生擾動，轉速可以在20 倍范圍內升高或者降低，這樣一來就使得分析的動態范圍幾乎增大了20倍。一般離心式分析儀的動態范圍為40，但是 CPS系統的動態范圍可以超過1000。過去很多需要消耗整夜時間而且低精度的測量，現在可以使用示差沉降法快速測量，而得到高精度的結果。

CPS納米粒度分析儀的光學系統和電路經過精心設計以降低信號中的噪聲，信噪比通常為50000左右，低噪聲使得系統具有很高的靈敏度，可檢測窄峰的重量通常小于0.01微克，這使得對于微克樣品的常規高精度分析變得可行。