FL 20BW 2000萬黑白制冷CMOS相機 參考價：面議
2000萬黑白制冷CMOS相機，暗電流低至0.001 e-/p/s，支持長曝光。15.86 mm (1″)5472 (H) x 3648 (V)2.4 μm x...
FL 20 2000萬彩色制冷CMOS相機 參考價：面議
2000萬彩色制冷CMOS相機，彩色熒光成像，一次捕獲高清細節。15.86 mm (1″)5472 (H) x 3648 (V)2.4 μm x 2.4 μm1...
Dhyana XV95 軟X射線（腔內）sCMOS相機 參考價：面議
～100% QE @ 80-1000 eV10?6 Pa 真空兼容度100 ke- 滿阱容量48 fps @ 4.2 MPUSB 3.0
Dhyana XF95 軟X射線（腔外）sCMOS相機 參考價：面議
～100% QE @ 80-1000 eV10?? Pa 真空兼容度100 ke- 滿阱容量48 fps @ 4.2 MPCameraLink & USB 3....
Dhyana 9KTDI Pro 高速TDI-sCMOS相機 參考價：面議
600 kHz @ 9K256 級TDI180 nm ~ 1100 nm風冷／水冷CoaxPress-Over-Fiber 2 x QSFP+
Dhyana 9KTDI 高速TDI-sCMOS相機 參考價：面議
510 kHz @ 9K256 級TDI180 nm ~ 1100 nm風冷／水冷CoaXPress 2.0
Dhyana 95 V2 高靈敏度sCMOS相機 參考價：面議
95% QE @ 560 nm11 μm × 11 μm2048 (H) x 2048 (V)48 fps @ 12 bitCameraLink & ...
Dhyana 6060BSI 大面陣高動態sCMOS相機 參考價：面議
95% QE @ 580 nm10 μm × 10 μm6144 (H) x 6144 (V)26.4 fps @ 36MPCoaXPress 2.0
Dhyana 6060 大面陣高動態sCMOS相機 參考價：面議
72% QE @ 550 nm10 μm × 10 μm6144 (H) x 6144 (V)44 fps @ 13MPCoaXPress 2.0
Dhyana 4040BSI 大面陣高動態sCMOS相機 參考價：面議
90% QE @ 550 nm9 μm × 9 μm4096 (H) x 4096 (V)16.5 fps @ 16MPCameraLink & US...
Dhyana 4040 V2 大面陣高動態sCMOS相機 參考價：面議
74% QE @ 600 nm9 μm × 9 μm4096 (H) x 4096 (V)16.5 fps @ 16MPCameraLink & US...
Dhyana 401D 緊湊型sCMOS相機 參考價：面議
18.8 mm (1.2″)6.5 μm × 6.5 μm2048 (H) x 2048 (V)40 fps @ 16 bitUSB 3.0
Dhyana 401A-G 緊湊型sCMOS相機 參考價：面議
32 mm (2″)11 μm × 11 μm2048 (H) x 2048 (V)91ke- 滿阱容量2e- 讀出噪聲
Dhyana 400DC 高靈敏度sCMOS相機（彩色） 參考價：面議
彩色 sCMOS6.5 μm × 6.5 μm2048 (H) x 2048 (V)22 fps @ 8 bitUSB3.0
Dhyana 400D 高靈敏度sCMOS相機 參考價：面議
72% QE @ 595nm6.5 μm × 6.5 μm2048 (H) x 2040 (V)35fps @ 16bitUSB3.0
Dhyana 400BSI V3 高靈敏度sCMOS相機 參考價：面議
95% QE @ 600nm6.5 μm × 6.5 μm2048 (H) x 2048 (V)100fps @ 4.2MPCameraLink & ...
Dhyana 2100 高速高分辨率sCMOS相機 參考價：面議
450 fps @ 21MPGlobal Shutter29.5mm Diagonal5120 (H) x 4096 (V)風冷 / 水冷
Dhyana 201D 緊湊型sCMOS相機 參考價：面議
15.3 mm (1″)6.5 μm × 6.5 μm2048 (H) x 1152 (V)70 fps @ 16 bitUSB 3.0
Aries 6510高靈敏高速大靶面sCMOS相機 參考價：面議
95 % 峰值QE6.5 μm Pixels29.4 mm Diagonal FOV150 fps @ 10.2MP0.7 e- Readout Noise
Aries 6506高靈敏高速大靶面sCMOS相機 參考價：面議
95% Peak QE6.5 μm Pixel22 mm Diagonal FOV200 fps @ Full Resolution0.7 e- Readout...
SIRM紅外體微缺陷分析儀 參考價：面議
SIRM是非接觸和非破壞型光學檢測設備，對體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯、堆垛層錯，體材料中的滑線和空隙等進行測試。這個技術也可對GaAs 和 InP等復合...
LST體微缺陷測試設備 參考價：面議
LST是檢測半導體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機，對入射光在樣品邊沿的散射進行掃描，獲得體微缺陷分布信息。
非接觸遷移率測試系統 參考價：面議
LEIModel1605，是非接觸遷移率測試系統，可對各種半導體材料和器件結構進行測試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。
非接觸方塊電阻測試系統 參考價：面議
LEI88 是針對科研類客戶開發的產品，具備非接觸快速測試方塊電阻和電導率功能。
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