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高溫環(huán)境下檢測(cè)用表面壓力分布測(cè)試薄膜的特點(diǎn)
閱讀：174 發(fā)布時(shí)間：2024-10-11高溫環(huán)境下檢測(cè)用表面壓力分布測(cè)試薄膜的特點(diǎn)
高溫環(huán)境下的壓力分布和壓力/表面壓力測(cè)量薄膜 Prescale for high heat
可在高溫環(huán)境下使用的壓力測(cè)量薄膜。可以在產(chǎn)生熱量的環(huán)境下測(cè)量壓力機(jī)表面的壓力值、壓力分布、平衡和負(fù)載值！
高溫標(biāo)尺是一種壓力測(cè)量薄膜，標(biāo)尺。
與普通的預(yù)刻度相比，由于熱而導(dǎo)致的顯色和基底變形得到抑制。這使得在加熱條件下測(cè)量壓力成為可能。
使用優(yōu)點(diǎn)
對(duì)于正常預(yù)分頻
*這是一張圖片。
用于高溫預(yù)分頻
*這是一張圖片。
與普通產(chǎn)品相比，可以最大限度地減少因熱而產(chǎn)生的發(fā)色和基材變形。
可以在仍然加熱的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量，從而可以在與制造條件非常相似的環(huán)境中高精度地測(cè)量壓力。
它可以縮短制造設(shè)備冷卻和加熱所需的時(shí)間，有助于提高生產(chǎn)率。