激光粒度分析儀是一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的動態光散射粒度儀產品。
使用電泳光散射技術測定zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優-越性，并可以配合激光粒度分布儀聯合應用于各項試驗。
適用范圍：
激光粒度分析儀同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測量，能廣泛應用于精細化工行業納米材料、表活、低聚物等的研發和生產質控，同時也是油墨，醫藥制劑等行業產品研發及質控檢測儀器。同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測量，能廣泛應用于精細化工行業納米材料、表活、低聚物等的研發和生產質控，同時也是油墨，醫藥制劑等行業產品研發及質控檢測儀器。
技術參數：
規格型號 | YT-JL601 | ||
執行標準 | GB/T 19627-2005/ISO 13321-1996 ；GB/T 29022-2012/ISO 22412-2008 | ||
測試范圍 | 1-10000nm（與樣品有關） | -500mV — +500mV | |
濃度范圍 | 0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關) | ||
電泳遷移率范圍 | > ±20μm.cm/V.s | ||
最高電導率 | 200mS/cm（取決于樣品） | ||
準確度誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | <15%（標準樣品） | |
重復性誤差 | <1%（國家標準樣品D50值） | <15%（標準樣品） | |
激光光源 | 半導體激光器，λ= 635nm，P=1-40mw （可調） | ||
探測器 | 光電倍增管PMT | ||
散射角 | 90o | 18o | |
樣品池體積 | 10mm*10mm*40mm, 1--4mL | 10mm*10mm*60mm, 1mL | |
溫控范圍 | 5-45℃ | ||
溫控精度 | 0.1℃ | ||
測試速度 | <5 Min | ||
數字相關器主要參數 | 規格型號 | HA1024 | HA1024 |
自相關通道 | 892 | 892 | |
基線通道 | 4 | - | |
物理通道數 | 5000 | - | |
延遲時間 | 1µs-10ms（可調） | 1µs-10ms（可調） | |
體積 | 560mm*450mm*280mm | ||
重量 | 20Kg | ||
產品特點和優勢：
測試原理 | 采用電泳光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的電泳運動速度測定顆粒Zeta電位的大小。顆粒電泳運動的群體速度，激光照射這些顆粒，導致的散射光多普勒頻移量不同。光子相關光譜法就根據頻移量分析顆粒Zeta電位的大小。 |
超高速數據采集 | 本儀器的核心部件通過HA1024數字相關器，能實時完成電泳散射光強的采集和自相關函數運算，從而有效地反映顆粒的電泳運動速度的信息，為Zeta電位測試結果的準確性奠定基礎。 |
高靈敏度信噪比 | |
高精度恒溫控制 | 采用半導體溫控技術，溫控精度高達0.1℃,使樣品在整個測試過程中始終處于恒溫狀態，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動變化導致的測試偏差，保證測試結果準確性及穩定性 |
穩定的光路系統 | 采用光學移頻裝置與光纖耦合技術搭建而成的光路系統，使探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性。 |
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