德國(guó)西克值型編碼器ATM60系列

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 巴魯夫帶優(yōu)選型號(hào)電感式標(biāo)準(zhǔn)接近開關(guān)

德國(guó)西克值型編碼器ATM60系列

• 不難發(fā)現(xiàn)，這類編碼器輸出的位置反饋，是基于當(dāng)前機(jī)械物理傳動(dòng)機(jī)構(gòu)直接測(cè)得的，而不是根據(jù)歷史記錄計(jì)算出來(lái)的，無(wú)需電池，更不會(huì)受到線路干擾、程序錯(cuò)誤...等外界環(huán)境的影響，從位置檢測(cè)的源頭做到了信號(hào)反饋的可靠性。

  使用增量型編碼器或者單圈值編碼器，的確可以實(shí)現(xiàn)多圈位置檢測(cè)和記錄功能，但卻是需要依賴于設(shè)備系統(tǒng)的正常運(yùn)行才能夠順利完成的：

• 過(guò)，個(gè)人認(rèn)為，圈數(shù)記錄在電池掉電的情況下發(fā)生數(shù)據(jù)丟失，只不過(guò)是一個(gè)表象而已，其圈數(shù)反饋必須依賴于歷史數(shù)據(jù)記錄的運(yùn)行機(jī)理，才是問(wèn)題的根本所在。可以說(shuō)，對(duì)于機(jī)械軸旋轉(zhuǎn)圈數(shù)，這種編碼器基本上沒(méi)有采取什么檢測(cè)措施，僅僅是做了簡(jiǎn)單的計(jì)數(shù)累加而已。即使沒(méi)遇到電池掉電（或損壞），也*可能因?yàn)榫€路干擾、寄存器失效、計(jì)數(shù)錯(cuò)誤...等其他原因?qū)е录拇嫫鲀?nèi)歷史記錄丟失，從而造成多圈值編碼器功能的失效。

  　　精度有限。

  　　其中，與光學(xué)編碼器比較，不怕振動(dòng)、灰塵、潮濕、可經(jīng)受高低溫沖擊，這些特性在某些應(yīng)用領(lǐng)域，如精度要求不高，但使用條件惡劣的情況下，遠(yuǎn)遠(yuǎn)優(yōu)于光學(xué)值編碼器，這些正在為越來(lái)越多人的認(rèn)識(shí)，這其中，磁電值編碼器應(yīng)用的佼當(dāng)屬德國(guó)

  型編碼器輸出的是二進(jìn)制碼或格雷碼等,即使是斷電后也能記錄下當(dāng)前的位置.值編碼器需要接入例如CQM1H-ABB21這個(gè)值編碼器接口板,普通PLC的高數(shù)計(jì)數(shù)器不能接值編碼器

   

   

  增量編碼器：由一個(gè)中心有軸的光電碼盤，其上有環(huán)形通、暗的刻線，有光電發(fā)射和接收器件讀取,獲得四組正弦波信號(hào)組合成A、B、C、D,每個(gè)正弦波相差90度相位差（相對(duì)于一個(gè)周波為360度），將C、D信號(hào)反向，疊加在A、B兩相上，可增強(qiáng)穩(wěn)定信號(hào)；

   

  另每轉(zhuǎn)輸出一個(gè)Z相脈沖以代表零位參考位。由于A、B兩相相差90度，可通過(guò)比較A相在前還是B相在前，以判別編碼器的正轉(zhuǎn)與反轉(zhuǎn)，通過(guò)零位脈沖，可獲得編碼器的零位參考位。

  。

   

  如此看來(lái)，在（多圈）值編碼器上的投資回報(bào)應(yīng)該還是不錯(cuò)的吧......

   

   1974 年，一位名叫做 John R. Wiegand 的物理學(xué)家發(fā)現(xiàn)，經(jīng)過(guò)適當(dāng)處理的合金絲，因外殼和內(nèi)芯之間的磁性差異，在特定的外加磁場(chǎng)條件作用下，可以使內(nèi)芯與外殼的磁化方向相同或相反，同時(shí)磁極性的快速變化會(huì)使得合金絲兩端產(chǎn)生一個(gè)短而有力的電脈沖，這種現(xiàn)象被稱作“韋根效應(yīng)”。

  編碼器實(shí)現(xiàn)值位置反饋、尤其是多圈值位置反饋的方式有很多種，我們會(huì)在后面的節(jié)目中，繼續(xù)和大家來(lái)談?wù)剮追N不同類型的值編碼器之間的應(yīng)用差別。

   

  這種獨(dú)立、穩(wěn)定的位置檢測(cè)性能，其實(shí)就是使用（多圈）值編碼器的意義和價(jià)值所在。

   而如果使用值編碼器（包括單圈 / 多圈）進(jìn)行位置測(cè)量，只要其目標(biāo)量程（即測(cè)量行程）在編碼器圈數(shù)范圍內(nèi)，設(shè)備系統(tǒng)就可以無(wú)需進(jìn)行任何位置計(jì)數(shù)和圈數(shù)累加方面的算法處理，直接引用編碼器輸出的反饋數(shù)據(jù)。

  1056222 DFS60E-TEEK00100

  1056264 DFS60A-TAPK65536

  1056384 WTB27-3P2483

  1056423 IME12-04BPPZW2K

  1056427 S30B-3011BA

  1056428 S30B-3011CA

  1056429 S30B-3011DA

  1056430 S32B-3011BA

  1056431 S32B-3011EA

  1026820 S30B-2011BA

  1026821 S30B-2011CA

  1026822 S30B-2011DA

  1028934 S30A-4011BA

  1028935 S30A-4011CA

  1028936 S30A-4011DA

  1028938 S30A-4011EA

  1045650 S30A-4111CP

  1045651 S30A-4111DP

  1045652 S30A-6111CP

  1045653 S30A-6111DP

  1045654 S30A-7111CP

  1045655 S30A-7111DP

  1050193 S30B-2011GB

  1051884 S32B-2011EA

  1052107 S30A-4011GB

  1056427 S30B-3011BA

  1056428 S30B-3011CA

  1056429 S30B-3011DA

  1056430 S32B-3011BA

  1056431 S32B-3011EA

將基于韋根效應(yīng)制成的韋根線圈置于磁性編碼器內(nèi)并靠近機(jī)械軸上的末端磁鐵，就可以借助磁場(chǎng)旋轉(zhuǎn)在線圈兩端激發(fā)出來(lái)的電脈沖，觸發(fā)其內(nèi)部寄存器的計(jì)數(shù)累加動(dòng)作，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)磁性編碼器的圈數(shù)檢測(cè)；