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光澤的測量是通過在物體表面照射一定數量的光線,然后量化其反射光的數量 光線的角度和反射量的測試方法是由被測量物體的表面外觀決定的 針對不同的應用如何選擇合適的角度? ASTM D523 描述了三種測量角度來測量所有表面的光澤
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RhopointNGL小型光澤度儀 RhopointNGL小型光澤度儀 RhopointNGL小型光澤度儀
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通用測量角度:60 使用標準測量角度60 ,可以測量所有光澤度 也常常用來分別作為低光澤度75 和高光澤度20 的基準角度 低光澤: 75 為了提高低光澤的分辨率,75 的入射角用來測量紙張的光澤度 這個角度有較大的測量點,將得到在有紋理的或輕微粗糙的表面的差異的平均值
公司經營品牌：GE druck, GE Panametrics,GE Bently,Wika,HBM,Tektronix,BEAMEX,SIKA,E+E，美國華瑞RAE,梅思安MSA，德爾格Draeger，德國IKA，美國奧豪斯，美國哈希hach,安捷倫等品牌，派克Parker,阿托Atos,力士樂Rexroth,哈威Hawe，德國KK,英國Time Electronics,美國斯坦福,英國密其，德國LR-Cal,德國Schleich,澳大利TPS,德國卡爾德意志等進口品牌
