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VIAVI Seeker HL泄漏檢測器         VIAVI Seeker HL泄漏檢測器          VIAVI Seeker HL泄漏檢測器

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導引頭D Lite是一種雙模雙頻家庭泄漏檢測器，可精確監測所有數字系統或混合數字和模擬系統中的泄漏。導引頭D Lite在前端所microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設計質量（QbD）制造。該光譜儀是一個堅固的、可擴展的下一代系統，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實等過程分析技術（PAT）應用的實時過程監測。可變濾波器（LVF）技術，PAT-W在工業過程監控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實際應用的設計。有數字系統或混合數字和模擬系統中的泄漏。導引頭D Lite在前端使用CT-4通道標microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外（NIR）分析儀，用于按設計質量（QbD）制造。該光譜儀是一個堅固的、可擴展的下一代系統，用于混合均勻性、含量均勻性、干燥損失、壓實等過程分析技術（PAT）應用的實時過程監測。可變濾波器（LVF）技術，PAT-W在工業過程監控儀表中具有小的形式因子，是一種適合于實際應用的設計。記器，或者在野外使用導引頭D Lite源發射機。