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基恩士 WI-5000 系列干涉式同軸 3D 位移測量儀
閱讀：778 發布時間：2020-1-3產品簡介：
針對大 10 × 10 mm 的測量區域，可瞬間獲取 8 萬個點的高度。 由于采用白光干涉原理，不受材質/顏色、死角的影響，實現了微米級的高精度測量。
1.并非以點線測量，而是以“面”進行測量針對大10×10 mm的測量區域，可瞬間獲取8萬個點的高度。由于采用白光干涉原理，不受材質/顏色、死角的影響，實現了微米級的高精度測量。
2.在線實現高速全數檢測測量多點時，需要高精度且高速掃描目標物。因此，往往會將時間浪費在移動載物臺上，不易進行全數檢測。由于WI-5000系列是以面進行同時測量，因此可大幅縮短測量時間，實現全數檢測。
3.大幅削減離線檢測工時為了用于離線檢測，備有可固定傳感器頭的底座。 配備可削減檢測工時的各種實用功能。改善從簡易測量到保存數據等各種情況的可操作性