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| 應用領域 | 環保 |
|---|
日本INTECS鹵素燈光源裝置UIH-1C
用于目視檢查的超亮照明裝置UIH-1C
將高強度的光照射到物體（* 1）時，會發生傾斜現象，并且可以輕松地從視覺上確認表面上的劃痕和碎屑，內部的異物和氣泡。
u003c/ su003e u003c/ su003e u003c/ su003e
* 1：半導體晶片，掩模玻璃，硬盤，液晶面板，透鏡等！
ＵＩＨ－１Ｃ型仕様
| ランプ定格 | 15V 150W |
|---|---|
| 設計照射徑と距離 | ランプ鏡筒先端から180mmでφ40mm |
| 高輝度 | 上記照射徑中央にて約60萬ルクス |
| 50萬ルクス時の照射徑 | 約φ45mm |
| 倍徑時距離と輝度 | 360mm 約15萬ルクス |
| 輝度偏差と可変幅 | 高輝度偏差：上限10％、下限20％ 可変幅 10:1以上 |
| 高輝度ランプ壽命 | 50時間以上 |
| 半輝度ランプ壽命 | 800時間以上 |
| 調光方式 | ＳＣＲ位相制御 |
| ランプハウス內冷卻 | ファンによる強制空冷方式 |
| ランプハウス內発熱監視 | 無し |
| ランプハウス冷卻保持（※１） | 無し |
| 電源 | AC100V トランス式 |
| 総重量 | 約７ｋｇ |
※１ ランプ保護の為、主電源スイッチをＯＦＦにしてもランプハウス內の溫度が約40℃以下になるまで
ファンによる冷卻を保持する機能
通常，目視檢查半導體晶片，掩模玻璃等會發現劃痕，灰塵，內部異物和氣泡。
發現需要技巧。開發該設備是為了方便進行這些檢查。
通過用高強度的光照射物體（* 1），會產生切痕現象，并且會產生劃痕，灰塵等。
您可以檢查灰塵，內部異物，氣泡等的附著力。
* 1半導體晶片，掩模玻璃，光學零件，透鏡等UIH-1C
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