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EMIC愛美克磁粉探傷器GT-301
EMIC愛美克 GT-301 磁粉探傷器
EMIC愛美克磁粉探傷器GT-301
EMIC愛美克磁粉探傷器GT-301
磁粉探傷
4桁表示
3レンジ
オートゼロ機能
ピークホールド機能
DC/AC機能
オートパワーオフ機能
極性表示付
●磁性材料の殘留磁束密度計測
●磁石の簡易測定
測定レンジ | 30mT、300mT、1000mT(3レンジ) |
---|---|
測定磁界周波數 | DC?AC(50/60Hz) |
機能 | オートゼロ機能、ピークホールド機能、オートパワーOFF機能 |
電源 | 単3電池(4個) |
校正 | 前校正 |
通過VMU-LB和固定倍率觀察用相機卡口的
組合,能夠對同一位置以不同倍率同時觀
察。
(低倍率側:2/3型、高倍率側:1/2型等)
通過與YAG激光(1064nm、532nm、355nm、266nm)物鏡組合,可實現高精度、高
品質加工。
與簡易支架一起使用,還可作為緊湊型顯微鏡使用。
★保護膜、有機薄膜等的剝離
★金、鋁等金屬配線切割、下層圖案的外露
★FPD的各種缺陷修正
★光掩模修正
★標記、修剪、圖像形成、局部退火、劃線
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