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產品簡介
光學系統像差傳函焦距測量綜合實驗儀型號：RLE-ME01
實驗簡介：
實際光學系統成像與理想光學系統成像之間的差異稱為像差，該參數主要用于評價光學系統的成像質量；傳遞函數測量法是工程上常用于光學系統成像質量評價的方法。
實驗簡介：
實際光學系統成像與理想光學系統成像之間的差異稱為像差，該參數主要用于評價光學系統的成像質量；傳遞函數測量法是工程上常用于光學系統成像質量評價的方法。
詳細介紹
光學系統像差傳函焦距測量綜合實驗儀型號：RLE-ME01
實驗簡介：
實際光學系統成像與理想光學系統成像之間的差異稱為像差，該參數主要用于評價光學系統的成像質量；傳遞函數測量法是工程上常用于光學系統成像質量評價的方法。光學系統像差理論及傳遞函數測量是《工程光學》課程的重要章節。RealLight®開發的像差測量實驗，采用專門設計的像差鏡頭，像差現象清晰；傳遞函數測量實驗，采用分辨率直讀法和調制傳遞函數（MTF）測量法，緊密結合實際工程應用。本實驗緊貼光電教學內容，于光電專業本科生實驗，亦可作為高職院校實訓設備及工廠生產檢驗設備使用。
實驗內容：
1、光學系統相差的計算機模擬；
2、平行光管的調整及使用方法；
3、軸向位置色差的測量實驗；
4、球差、彗差、像散、場曲的星點法觀測實驗；
5、刀口儀陰影法原理及陰影法測量光學系統像差實驗；
6、分辨力板直讀法測量光學系統分辨率；
7、利用變頻朗奇光柵測量光學系統MTF值實驗；
8、基于線擴散函數測量光學系統MTF值實驗；
9、正透鏡焦距測量實驗；
10、負透鏡焦距測量實驗。
全自動劃圈法附著力測試儀 型號：BGD-501 |
