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產品型號：MB2S-EN MB2S B2S-EN B1S-E 所在地：北京市 更新時間：2019-03-18 參考價： 面議 在線留言 -
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ES45保護膜ES24美國GE探頭膜 詳細摘要： ES45保護膜ES24美國GE探頭膜ES45保護膜ES24美國GE探頭膜探頭保護膜 美國GE探頭膜保護膜（1套=10片）ES45（53756）用于B..S;ES...
產品型號：ES45 ES24 所在地：北京市 更新時間：2019-03-06 參考價： 面議 在線留言 -
G5MN G10MN G15MN延遲塊直探頭 詳細摘要： G5MN G10MN G15MN延遲塊直探頭型號 頻率 近場距離 G5MN 5MHz 5mm；G10MN 10MHz 10mm；G15MN 15MHz 15mm
產品型號：G5MN G10MN G15MN 所在地：北京市 更新時間：2019-02-28 參考價： 面議 在線留言 -
雙晶直探頭 雙晶探頭 詳細摘要： MSEK2 MSEK4 SEB10KF3-EN雙晶直探頭 雙晶探頭MSEB4S SEB4S GE歐規雙晶直探頭雙晶直探頭用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經...
產品型號：MSEK2 MSEK4 SEB10KF3-EN 所在地：北京市 更新時間：2019-02-24 參考價： 面議 在線留言 -
雙晶直探頭 雙晶探頭 詳細摘要： DA0.8G SEZ5M5 SEK2C雙晶直探頭 雙晶探頭MSEB4S SEB4S GE歐規雙晶直探頭雙晶直探頭用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經常用作在...
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雙晶保護膜直探頭 詳細摘要： MSEB4S SEB4S GE歐規雙晶保護膜直探頭雙晶直探頭用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中關鍵部位小缺...
產品型號：MSEB4S SEB4S 所在地：北京市 更新時間：2019-02-24 參考價： 面議 在線留言 -
GE歐規雙晶保護膜直探頭 詳細摘要： MSEB2S SEB2S GE歐規雙晶保護膜直探頭雙晶直探頭用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體）中關鍵部位小缺...
產品型號：MSEB2S SEB2S 所在地：北京市 更新時間：2019-02-24 參考價： 面議 在線留言 -
GE歐規雙晶直探頭 詳細摘要： SEB4KF8 SEB10KF3 SEB10KF3-EN GE歐規雙晶直探頭雙晶直探頭用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或...
產品型號：SEB4KF8 SEB10KF3 SEB10KF3 所在地：北京市 更新時間：2019-02-24 參考價： 面議 在線留言 -
GE歐規雙晶直探頭 詳細摘要： SEB2 SEB4KF8-EN SEB5KF3 GE歐規雙晶直探頭雙晶直探頭用于探測棒材、坯塊、軸、桿等中心缺陷，經常用作在中等和大尺寸物體（如鍛造或鑄造的物體...
產品型號：SEB2 SEB4KF8-EN SEB5KF3 所在地：北京市 更新時間：2019-02-24 參考價： 面議 在線留言