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   磁性材料重金屬元素分析儀是利用XRF檢測原理實現對各種元素成份進行快速、、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發效果，利用XRF技術可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

   磁性材料重金屬元素分析儀 性能特點
高效超薄窗X光管，指標達到水平
新的數字多道技術，讓測試更快，計數率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Si、P等輕元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術使譜峰分解，使被測元素的測試結果具有相等的分析精度
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
技術參數
產品型號：EDX 4500H
產品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環境溫度：15℃-30℃
環境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg
標準配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數字多道技術
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
可靠的整體鋼架結構
90mm×70mm的狀態顯示液晶屏
真空泵
X熒光光譜儀
型號：3600B
儀器介紹

EDX3600B X熒光光譜儀是利用XRF技術解決國內水泥廠、鋼鐵公司、粉末冶金企業等對復雜成份、多類型櫚中元素的快速、分析。該技術的主要特征為：利用低能X光激發待測元素，對Si、S、AI、Na、Mg、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、等元素有良好的激發效果，并且測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率； 采用UHRD探測器，具有良好的能量線性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動穩譜裝置，了儀器工作的*性；利用解譜技術使譜峰分解，使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有和的分析精度；采用相似自動分類技術使分類更，有效地克服基效應對測量帶來的影響；采用多參數的線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的消除。
性能特點
的水泥、鋼鐵、礦料、粉末冶金、磁性材料等全元素分析，亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器，摒棄液氮制冷。

智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡單。
技術指標
測量元素范圍：從鈉（Na）鈾（U）
元素含量分析范圍：1ppm—99.99% 
同時分析元素：24種元素同時分析
測量鍍層：鍍層厚度測量薄0.005微米，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05% 
測量對象狀態：粉末、固體、液體 
測量時間：60s—200s  
能量分辨率為：（150±5）eV  
管壓：5KV—50KV 

元素含量分析范圍：1ppm—99.99% 
同時分析元素：24種元素同時分析
測量鍍層：鍍層厚度測量薄0.005微米，可分析5層以上的鍍層
分析精度：0.05% 
測量對象狀態：粉末、固體、液體 
測量時間：60s—200s  
能量分辨率為：（150±5）eV  
管壓：5KV—50KV 

管流：50uA—1000uA
標準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器 
光路增強系統 
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片 
的升降平臺 

信噪比增強器 
光路增強系統 
內置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片 
的升降平臺 

加強的金屬元素感度分析器
應用領域
鋼鐵和有色金屬檢測 
水泥檢測 
礦料分析
粉末冶金成分分析
磁性材料半成品、成品在線控制
水泥檢測 
礦料分析
粉末冶金成分分析

磁性材料半成品、成品在線控制