當前位置:廣東天瑞儀器有限公司>>技術文章>>鍍層測厚儀的測試原理
鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
臺式的熒光X射線膜厚測試儀,是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。
X射線的能量穿過金屬鍍層的同時,金屬元素其電子會反射其穩定的能量波譜。通過這樣的原理,我們設計出:膜厚測試儀也可稱為膜厚測量儀,又稱金屬涂鍍層厚度測量儀,其不同之處為其即是薄膜厚度測試儀,也是薄膜表層金屬元素分析儀,因響應*環保工藝準則,故市場上較普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測厚儀。
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。