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硅平面窗口片（Silicon (Si) Windows）是一種平行平面板，通常用作電子傳感器或外在環境的檢測器的保護窗口。在選擇窗口時，應注意窗口片的材質、透過率及透過波段、面型、光潔度、平行差等參數指標。
可紅外紫外窗口片是一種設計用于外紅或紫外光譜的窗口片。窗口片設計用于防止電子傳感器、檢測器或其他敏感光學元件被飽和或出現光損傷現象。硅是一種紅外波段常用的光學玻璃材料，透過波段為1.2-8.0μm，硅具有高熱傳導率。可以作為多種光學元件的基底，例如透鏡、窗口片等，常用于近紅外與中紅外的應用，也適用于紅外成像、太赫茲成像、醫療、軍事等應用中。
聯合光科提供不鍍膜、鍍增透膜的硅基底的平面窗口，提供雙面增透的IR1（3-5μm）增透膜窗口片。
硅平面窗口片：
材料硅單晶
透過波前畸變1λ@633nm
平行差＜1弧分
表面光潔度40/20-60/40
直徑誤差在+0.0/-0.1mm
厚度公差±0.1mm
倒邊0.2mmX45°
鍍膜無
光譜曲線：
1
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