| 產地類別 |
國產 |
價格區間 |
面議 |
| 應用領域 |
環保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
產品說明、技術參數及配置
EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦精準分析，滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統。
天瑞儀器 EDX 2000A 是一款全自動微區膜厚測試儀，以下是其詳細介紹1：
上照式設計：可適應更多異型微小樣品的測試，如半導體、芯片及 PCB 等行業的非接觸微區鍍層厚度測試。
信號采集高效：全新光路，更短光程，相較傳統光路，信號采集效率提升 2 倍以上。
攝像頭配置優良：可變焦高精攝像頭搭配距離補正系統，能兼顧微小產品以及臺階、深槽、沉孔樣品的測試需求。
測試高效：可編程多點測試，能自動完成對多個樣品多個點的測試，大大提高測樣效率。還自帶數據校對系統，讓用戶無需擔心數據突然變化。
硬件配置高：采用進口高分辨率的 FAST SDD 探測器，分辨率高達 140eV，能精準解析每個元素的特征信號，對復雜底材以及多層復雜鍍層優勢明顯。進口的高功率大高壓單元搭配進口大功率 X 光管，保障信號輸出與激發的穩定性，降低故障率。高精度自動化的 X 軸、Y 軸以及 Z 軸三維聯動，可快速完成對微小異型測試點的定位。
軟件界面人性化：人性化軟件界面，操作便捷。曲線有中文備注，易于上手。還能實時監控儀器硬件功能，讓使用更放心。
適用于金屬鍍層的電鍍、化鍍、熱鍍等鍍層厚度分析測量，電鍍液成分測試，合金鍍層成分及厚度分析，以及首飾定性半定量分析以及鍍層厚度分析，廣泛應用于電子通訊、航天新能源、電器設備、汽車制造、磁性材料、貴金屬電鍍、高校及科研所等領域。
包括開放式樣品腔、推拉式屏蔽罩、SDD 探測器、信號檢測電子電路、探測器保護傳感器、計算機及噴墨打印機、精密二維移動樣品平臺、大行程升降測試框。
尺寸：485（W）×588（D）×505（H）mm。
重量：60kg。
X 射線源：X 射線管電壓 5 - 50KV 可調，電流 50 - 1mA 可調，制冷方式為密閉型風冷。
準直系統：標配￠0.2mm（可根據要求選配）。
濾光片：Al 濾光片（可根據要求選配）。
樣品觀測配置：樣品照明為 LED 燈上方垂直照射，觀察采用彩色 CCD 攝像頭，倍率 25 倍，視野 6×4.8mm。
自動對焦功能：高度激光自動對焦。
電動 XY 高精度移動平臺：移動范圍 100mm（X），100mm（Y），分辨率 5μm，重復定位精度＜10μm，步進電機步距角 1.8°，載重量 3kg（無傾斜）。
Z 軸升降平臺：升降幅度范圍 0 - 140mm。
電源輸入：AC220±10%，5A，50/60HZ。
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