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奧富森提供的XRF薄膜標準樣品綜合了多種高真空鍍膜技術進行制備；具有膜層厚度控制精確，厚度均勻，性能穩定等優點，元素純度可達99.9%以上；同時綜合ICP和XRF等檢測技術，可精確標定薄膜標樣的負載量。

《HJ 830-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定波長色散-X射線熒光光譜法》以及《HJ 829-2017 環境空氣顆粒物中無機元素的測定能量色散-X射線熒光光譜法》均要求使用薄膜標樣建立儀器的工作曲線。

XRF薄膜標準樣品分SL(0.5-2μg/cm²)、VL(3-5μg/cm²)、L(15-25μg/cm²)、R(40-60μg/cm²)、H(80-120μg/cm²)五個負載量系列，其他負載量的產品可根據客戶實際需求定制。

可供應的XRF薄膜標準樣品的元素如下（可在表格內打√選擇樣品）：

可提供超純鋁杯用于XRF測定大氣顆粒物的輔助設備，用以消除或減小合金材料樣品杯對樣品結果的影響；采用*標準樣品研究所提供的湖南重金屬污染標準土壤樣品，參考NIST 2783標樣制備方式研制成功混合元素薄膜樣品，可用于XRF分析方法的驗證以及XRF實驗室日常質控工作。

XRF薄膜標準樣品的安裝形式：

1. 安裝環尺寸（厚度為1.5mm的亞克力玻璃）
2.  

       *36號尺寸。

方形：

       50x50mm方形尺寸，內置ø32mm的圓環，代碼50。

1. 支撐膜材料

• M6.3型材料。

鍍膜方式：