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當前位置：廣東皓天檢測儀器有限公司>>恒溫恒濕試驗箱>>大型恒溫恒濕箱>> SMA-80PF大型恒溫恒濕試驗箱 芯片可靠性測試設備
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 1萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 立式 | 應用領域 | 石油,能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
| 內箱尺寸 | 400*400*500 | 外箱尺寸 | 680*1120*1510 |
| 用途 | 材料耐高低溫測試 | 箱體材質 | 防銹處理冷軋鋼板 |
| 噪音 | ≤68db | 面板顏色 | 紫羅蘭、灰色 |
一、適配芯片測試的核心結構
二、芯片級精準控溫原理
高潔凈環境保障：艙體內部低塵設計與新風過濾系統，滿足芯片對潔凈度的嚴苛要求，避免外部污染干擾測試結果。
多維度數據監測：內置多路溫度傳感器與數據采集模塊，可實時記錄芯片表面及周邊環境溫濕度變化，支持曲線導出與對比分析。
快速溫變能力：溫變速率可達 2℃/min，滿足芯片熱應力測試需求，加速暴露潛在缺陷。
智能自動化測試：支持多段程序編輯，可自定義溫濕度循環曲線，適配芯片加速老化、溫濕度循環等多種測試標準。
四、芯片可靠性測試應用場景
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