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| 產地類別 | 國產 | 類型 | 數字式電阻測試儀 |
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產品簡介
詳細介紹
Stratometer G非接觸式面電阻測試儀
測量原理：高頻法
它可以測量薄膜上的導電金屬表面；玻璃、紙張、塑料等的氧化表面、漆涂層表面或不能接觸的表面。
STRATOMETER G是一個小的手持式儀器。測量僅需要將樣品放置在簡單的儀器附件上。
測量范圍：0,5...20歐姆/平方。
尺寸：約230×120×50毫米（不含基座）。
Stratometer G非接觸式面電阻測試儀
特點：
顯示的片電阻歐姆/平方、西門子/ SQR（MHO）光密度及厚度（納米級）；
可輸入一個材料常數，存儲100個測量值；
串行接口（RS-232）的數據傳輸到PC。
分辨率會自動調整測量值。
充電的電池，并允許連接到PC（通過RS-232）
Stratometer G
技術規格：
測量方法：高頻反應（渦流感應）
核心測量范圍：0.5…20Ω
可擴展范圍：達50Ω
解析度：0.5 Ω:/0.001 Ω
2 Ω以上:/0.01Ω
20 Ω以上/0.1Ω
精確性：0.5…5.0 Ω/sq: 5%
5.0…20 Ω/sq: 7%
20…50 Ω/sq:10%
測量連續性：2秒鐘
串行接口：RS-232（通過插接座連接）
操作環境溫度：+10—+45℃
外形尺寸：23cm*7cm*4cm
重量：約510克
Stratometer G 可測量產品/應用：
- 包裝箔（食品/制藥/醫療）
- 金屬化電容器箔
- 窗膜（防曬）
- 鍍膜玻璃（LOW-E，ITO，TCOetc。）
- 太陽能電池生產
- 金屬化標簽
- 裝飾膜/紙
- 柔性電路板（FCB）
- 電偶涂料的
- 濺射層
- 等。