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| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 化工,綜合 |
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延遲探測器（Delayline Detectors）
延遲探測器（Delayline Detectors）具有出色的時間分辨率、高達幾十MHz采樣和動態1D/2D /3D直方圖，將微觀粒子分析提升到高速測量的新水平。如上圖，微通道板探測器（MCP）提供了高性能電子、離子及光子成像。如果應用程序進行單事件分析，則MCP的延遲探測器讀出是很好的選擇，因為Delayline檢測器（DLD）能夠實現真正的單事件計數，具有高信噪比和高時間分辨率。
讀出在所有時間分辨MCP讀出系統中具有優勢，因為它們提供的時間切片圖像具有很高強度線性，時間窗口低至100ps以下。
關鍵參數
| Active Diameters | 10mm - 120mm |
| Lateral Resolution | down to 50µm |
| Imaging Countrate (Permanent Random) | > 5 million counts/s |
| Imaging Countrate (Special Layouts) | > 20 million counts/s |
| Max. Burst Rate | up to 100 million counts/s equivalent |
| Multi-Hit Designs | >= 4 hits |
| High Voltage Floating Capability | up to 10kV |
| Time Bin Resolution | 6.8ps |
| Typical Time Resolution (Position Integrated) | < 200ps |
| Start Repetition Rate | max. 9MHz |
| Standard COMS | USB 3.0 & GBit LAN |
配置示意圖
應用領域：
電子和離子的飛行時間分析（TOF）
時間相關或時間符合光子和粒子成像
用于X射線和電子能譜的門控成像
檢測尺寸達120mm的大面積計數成像(XPS, UPS, EELS)
電子能量和飛行時間分析儀(XPS, UPS, EELS)
飛行時間光電電子顯微鏡(ToF PEEM)
中能離子散射與飛行時間分析(MEIS - ToF)
原子探針斷層掃描/顯微鏡(APT, 3D-AP)
X射線吸收/發射光譜(XAS, XES)
門控對比增強X射線皮秒成像
熒光壽命成像(FLIM, FLIM- FRET)
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