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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
芯片半導(dǎo)體高低溫沖擊試驗(yàn)箱：分高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分，測(cè)試樣品放置在其中一個(gè)工作室內(nèi)，吊籃通過(guò)傳動(dòng)方式實(shí)現(xiàn)樣品在高低溫室的切換，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試。*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)確保試驗(yàn)箱恒溫性能好。
芯片半導(dǎo)體高低溫沖擊試驗(yàn)箱
GB/T 2423.1-2008 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法、GB/T 2423.2-2008 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法、GB/T2423.22-2002 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Na
GJB 150.5A-2009 設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360A-1996 溫度沖擊試驗(yàn)、IEC 68-2-14 試驗(yàn)方法 N ：溫度變化
GJB367.2-2001 通信設(shè)備通用規(guī)范 溫度沖擊試驗(yàn)
設(shè)備主要技術(shù)參數(shù) | |
1.試驗(yàn)區(qū)域容積 | 80L |
2工作室尺寸 | 400×500×400mm（深×寬×高) |
3外箱尺寸 | 1607×1487×1900mm（深×寬×高) |
4 溫度沖擊范圍 | 高溫：（+60～+150）℃/低溫：（-40～-10）℃ |
5試驗(yàn)原理 | 分高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分，測(cè)試樣品放置在其中一個(gè)工作室內(nèi)，吊籃通過(guò)傳動(dòng)方式實(shí)現(xiàn)樣品在高低溫室的切換，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試。*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)確保試驗(yàn)箱恒溫性能良好。 |
6 高溫區(qū)預(yù)熱溫度 | +60℃→+200℃ |
升溫 +60℃ → 150℃≤45min 注：降溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能 | |
7 低溫區(qū)預(yù)冷溫度 | -70℃～-10℃ |
降溫 +20℃ → -70℃≤70min 注：降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能 | |
8 溫度波動(dòng)度 | ±0.5 ℃ |
9 溫度均勻度 | ±2.0 ℃ |
10溫度穩(wěn)定時(shí)間 | ≤3min |
11 提籃上升時(shí)間 | ≤5sec |
12 升 溫 速 率 | 高溫曝露:+85℃/30min→低溫曝露:-40℃/30min |
13 電源規(guī)格及功率 | AC 380V±10% 頻率50HZ 功率：18.0KW |
14 噪音 | 68db |
15 控制儀表 | 中國(guó)臺(tái)灣威碩品牌原裝7"寸大屏幕觸摸屏控制儀表 |
16制冷壓縮機(jī) | 進(jìn)口法國(guó)泰康或德國(guó)谷輪低溫型活塞高效壓縮機(jī) |