摘要
基于 Mie 散射原理的激光粒度儀是顆粒測量領域應用廣泛的儀器之一。通常情況下顆粒越小，散射角越大，激光粒度儀探測器陣列接收到的散射光能分布的主峰位置越靠外。但是，對特定相對折射率的顆粒，在某些粒徑區(qū)間，散射光能分布的主峰位置會隨著顆粒粒徑的減小而向探測器陣列的內(nèi)側移動，稱之為散射光能分布的反常移動。根據(jù) Mie 散射原理，給出了反常移動的規(guī)律以及不同相對折射率下反常移動的粒徑區(qū)間，分析了反常移動對粒度分析的影響，提出了降低該影響的方法，并對實際樣品進行測試對比。結果表明，該方法可以降低反常移動對粒度分析的影響。

 

關鍵詞激光粒度儀；光能分布反常移動；Mie 散射；主峰位置