顆粒的物理性質(zhì)測試對于很多行業(yè)都具有重要意義，顆粒的粒徑分布與球形度、長徑比等外形分布數(shù)據(jù)都是經(jīng)常需要用到的物理參數(shù)。

靜態(tài)顆粒圖像分析設(shè)備采用圖像采集系統(tǒng)與分析軟件，將計算機圖像學(xué)與顆粒粒度及粒形分析理論結(jié)合，在獲得清晰的顆粒圖像的同時，將顆粒的粒度、球型度、長徑比、龐大率、表面率等相關(guān)顆粒大小和形狀的表征參數(shù)以特征值和分布的形式呈現(xiàn)出來，使用戶可以詳細(xì)的了解顆粒。

動態(tài)顆粒圖像分析儀借助于500萬像素的工業(yè)級雙向遠(yuǎn)心鏡頭以及強大的分析軟件，可快速對待測顆粒進行粒形分析，可以同時測量顆粒的粒度粒形參數(shù),并且具有采樣量大,無取向誤差,顆粒無粘連重疊等特點，廣泛應(yīng)用于質(zhì)量控制、研發(fā)部門以及實驗室，可替換篩分分析。

靜態(tài)圖像法（顯微鏡法）：由顯微鏡、攝像機和圖像分析軟件組成。

優(yōu)點：成本較低，操作簡單，圖像清晰、可進行圓形度、長徑比等形貌分析。

缺點：分析速度慢，無法分析細(xì) 顆粒（如-2 μm ）。
 

動態(tài)圖像法：由顯微鏡、高速攝像機、樣品分散系統(tǒng)、控制系統(tǒng)以及高速圖像分析軟件組成。

優(yōu)點：顆粒圖像直觀清晰，操作簡便、拍攝與分析速度快、重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可干法也可濕法，可測量最大顆粒，可進行圓形度、長徑比等形貌分析。

缺 點：分析細(xì)顆粒（如-2 μm ）圖像不清晰，誤差較大，成本較高。