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菲希爾熒光射線測厚儀XAN型號信息
閱讀:43 發布時間:2025-5-28產品特點
優化設計:為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優化設計,配備固定的準直器和基本濾片,適用于貴金屬分析。
測量精度高:配備高分辨率硅漂移探測器(SDD),適用于更復雜的多元素分析,能實現高精度測量和良好的檢測靈敏度。重復性對于金≤0.5‰,測量時間 60 秒。
測量方向合理:由下至上的測量方向,可簡便地實現樣品定位。
穩定性好:具有出色的精度和長期穩定性,降低了重新校準的必要性,節省時間和精力。
分析方法先進:Fischer 的基本參數方法允許分析固體和液體樣品以及涂層系統,無需校準。
技術參數
元素范圍:硫 S(16)至鈾 U(92),同時多達 24 種元素。
設計:臺式單元,帶有向上打開的罩。
X 射線管:帶鈹窗的微焦點鎢管。
高電壓:3 檔,分別為 30kV,40kV,50kV;最大陽極電流 1mA。
光圈(準直儀):直徑 1mm(39mils),可選直徑 2mm(79mils)或直徑 0.6mm(23.6mils)。
應用領域
珠寶行業:可分析珠寶中各種貴金屬及其合金的成分,確定其純度和品質,也可測量珠寶表面涂層厚度,評估涂層質量。
硬幣制造:用于分析硬幣的金屬成分,確保其符合標準,同時可檢測硬幣表面的鍍層厚度,保證鍍層均勻性和質量。
貴金屬加工:在貴金屬冶煉、加工過程中,對原材料、半成品和成品進行成分分析和涂層厚度測量,實現質量控制。
牙科領域:分析牙科合金的成分,確保其生物相容性和性能符合要求,也可用于測量牙科修復體表面涂層厚度