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菲希爾鍍金層測厚儀FISCHER代理信息
閱讀：104 發布時間：2025-4-26菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240儀器特點
用途廣泛的鍍層厚度測量
通過組合高壓和濾片，可精準測量極薄（如50 nm Au）至較厚（如100 μm Sn）的鍍層，覆蓋多種厚度需求 。
高精度微聚焦技術
配備微聚焦X射線管，最小測量點可達100 μm，適用于微小結構（如連接器、觸點）的精細檢測 。
高效計數率與穩定性
比例計數器支持高達數千cps（每秒計數率），確?？焖贉y量和良好的重復精度，即使短時間測量也能保證結果可靠性 。
便捷的樣品放置設計
X射線源位于測量艙底部，射線方向從下至上，結合大容量C型開槽艙體，便于放置大尺寸或扁平樣品（如印刷線路板） 。
靈活的測量配置
支持手動或自動切換準直器與濾片，適應不同鍍層材料和結構（如多層鍍層、同元素鍍種）