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掃描電鏡---儀器到貨通知
閱讀：283 發布時間：2024-6-24掃描電鏡---儀器到貨通知
二手日本電子IT200SEM+EDX電鏡 JSM-IT200掃描電子顯微鏡
經歷長達3個月的時間從購入到到貨，期待到驚喜，在2024年6月儀器成功入庫倉庫，經過工程師性能確認和儀器調試，性能已經可以媲美全新儀器性能。
儀器主要技術參數：
主要技術指標：
(1)分辨率：二次電子探頭 3.0nm (30kV) 15nm (1kV) 8nm (3kV);(2)加速電壓 0.5-30KV 連續可調;(3)放大倍率5X-300,000X(一般的樣品，觀測放大倍數20000倍以下合適； (4)真空度 高真空 ≤0.1mPa
主要功能：
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像，除此意外，如果配備能譜分析系統，在進行獲得樣品表面像的時候，還可以對樣品的某個定點位置進行元素的半定量分析。根據EDS分析出的元素比例，進行擬合處理，可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
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