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奧林巴斯OmniScan™ X3一經面世，就受到了大家廣泛的關注。

究竟這款儀器高級在哪里？

怎樣才能更好的使用X3？

X3能為我們帶來哪些意想不到的驚喜？

大家的這些疑問，我們統統會一一解答。奧林巴斯此次將通過Webinar的形式，讓大家更好的了解X3，更好的使用X3。 

此次網絡研討會將進行5場討論，分別介紹與全聚焦（TFM）成像相關的各類問題，以及如何有效的運用先進的TFM技術。您可以參與其中的1場，也可以5場都參加。

01

Confidence You Can See—Introducing the OmniScan™ X3 PAUT/TFM Flaw Detector 

Date: January 22, 2020

02

The Basics of the Total Focusing Method (TFM)       

Date: February 12, 2020

03

Acoustic Influence Map (AIM)—The Modeling Tool for Your TFM Inspection 

Date: March 4, 2020

04

Total Focusing Method (TFM) vs Phased Array (PAUT)—When to Use Each Method 

Date: March 25, 2020

05

Ensuring Code Compliance While Using the Total Focusing Method

Date: April 15, 2020

兩位無損檢測專家Tommy Bourgelas和Emilie Peloquin將為大家帶來精彩紛呈的演講！

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