目錄:北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>材料電學(xué)性能測試儀>>高溫介電材料測試儀>> GWJD-1000高溫介電溫譜測試儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電氣 |
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GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)（四通道測試，同時(shí)測試4個(gè)樣品）介紹：
關(guān)鍵詞：高溫介電溫譜測試儀、高溫介電性能測量系統(tǒng)、高溫介溫譜能系統(tǒng)。
產(chǎn)品介紹：
GWJD-1000型高溫介電性能測量系統(tǒng)主要應(yīng)用于高溫下材料的介電性能測試與分析，包括介電常數(shù)、介電損耗、電容等參數(shù)，同時(shí)測試出測試材料的其他阻抗參數(shù)，廣泛應(yīng)用于陶瓷材料、半導(dǎo)體器件及功能薄膜材料等研究 。
產(chǎn)品優(yōu)勢：
1.耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好
2.四通道測試，可以同時(shí)測試1-4個(gè)樣品，方便快捷
3.數(shù)據(jù)分析軟件：提供多種掃描曲線，可以在多窗口之間切換數(shù)據(jù)
《符合ASTMD150和D2149-97標(biāo)準(zhǔn)>><<符合GB/T1409-2006介電常數(shù)和介電損耗的推薦方法》
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1.可以在高溫、寬頻、真空條件下測量固體、薄膜樣品的介電性能
2.可以分樣品的頻率譜、溫度譜、偏壓譜、阻抗譜、介電譜、時(shí)間譜等測量功能
3.可以測量樣品的介電常數(shù)、介電損耗，電容C，損耗D，電感L，品質(zhì)因數(shù)Q，阻抗Z等物理量；以實(shí)現(xiàn)介電常數(shù)和介電損耗隨多個(gè)溫度、多個(gè)頻率變化的曲線，時(shí)間和電壓變化的曲線
4.可提供塊體，薄膜，單樣品，四樣品夾具，滿足不同測試要求
高溫介電溫譜測試儀主要技術(shù)指標(biāo)：
測量溫度：室溫-1000°C | 升溫斜率：2°C/min |
頻率范圍：20-30MHZ | 精度：0.05% |
測量精度：±0.1°C | 控溫精度：±1°C（PID精準(zhǔn)控溫） |
高溫樣品桿：耐高溫、1000°C不氧化，電極阻抗低、絕緣好 | 測試方法：兩線法或四線法 |
測試通道數(shù)：1-4通道 | 一次可測樣品數(shù)：1-4個(gè)樣品 |
樣品尺寸：直徑小于2-10mm，厚度小于1-10mm，樣品放置位置靈活，可快捷安裝和拆卸 | 測量精度：0.05% |
AC電平：0V到1Vrms | 直流偏壓：0到±40V/100mA |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：EXCEL表格等多種格式 | 加熱方式：電阻絲加熱 |
真空度范圍：100Pa-1大氣壓 | 電極材料：鉑金 |
數(shù)據(jù)傳輸：4個(gè)USB接口 | 儀器通訊：USB或GPIB |
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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