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激光粒度儀是專指通過顆粒的衍射或散射光的空間分布（散射譜）來分析顆粒大小的儀器。根據能譜穩定與否分為靜態光散射粒度儀和動態光散射激光粒度儀。

德國Fritsch公司是實驗室樣品預處理和顆粒度分析的。Fritsch公司的Analysette22 NanoTec程納米激光粒度儀，采用聚焦激光散射、衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。

靜態激光粒度儀原理：
由激光器發出的光束經針孔濾波及擴束器后成為一直徑為5-10mm的平行單色光，當該平行光照射到測量區中的顆粒群時會產生衍射現象，衍射散射光的強度分布與測量區中被照射顆粒的直徑以及顆粒數有關，這就為顆粒測量提供了一個尺度，用接收透鏡（一般為傅立葉透鏡）使由各個顆粒散射出來的相同方向的光聚焦到焦平面上，在這個平面上放置一個多元光電探測器，用來接收散射光能的分布。光點探測器把照射光能轉換成相應的電信號，這些電信號中包含顆粒粒徑大小以及分布的信息。電信號經過放大和A/D轉換后送入計算機，計算機根據程序計算出被測顆粒的平均粒徑以及分布。

A22 NanoTec 的推出，可以替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效，使用更加便捷。