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[供應(yīng)]TEJDCS-2855D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
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  • TEJDCS-2855D介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀
貨物所在地:
江蘇揚州市
更新時間:
2023-05-04 11:39:56
有效期:
2023年5月4日 -- 2023年11月1日
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產(chǎn)品簡介

TEJDCS--2855D 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀由Q表、測試裝置,電感器及標(biāo)準介質(zhì)樣品組成,能對絕緣材料進行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

詳細介紹

TEJDCS--2855D 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀由Q表、測試裝置,電感器及標(biāo)準介質(zhì)樣品組成,能對絕緣材料進行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)的測試。它符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

    TEJDCS-2855D 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗測試儀工作頻率范圍是100kHz~100MHz,它能完成工作頻率內(nèi)材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

    本儀器中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來夾被測樣品,配用介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計算得到。使用TEJDCS-2852A或TEJDCS-2853A數(shù)字介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀具有自動計算介電常數(shù)(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ)

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀特點:

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在100kHz~100MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調(diào)諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制TFT彩屏菜單式顯示多參數(shù):介電常數(shù)(ε),介質(zhì)損耗角(tanδ),Q值,測試頻率,調(diào)諧狀態(tài)和調(diào)諧容值等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz~70MHz(TE2852A/D),50kHz~160MHz(TE2853A/D)測試信號。獨立信號源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標(biāo)GB/T 1409-2006,美標(biāo)ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

2 主要技術(shù)指標(biāo):

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率100kHz~100MHz的tan δ 和 ε 變化的測試。

2.1.2 tan δ 和 ε 測量范圍:

    tan δ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tan δ 和 ε 測量精度(1MHz):

    tan δ:±5%±0.00005,ε:±2%

 

2.2 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀裝置選型

 

型號

TEJDCS-2851D

TEJDCS-2852A

TEJDCS-2853A

工作頻率范圍

50kHz~50MHz

四位數(shù)顯,壓控振蕩器

1kHz~70MHz

四位數(shù)顯,數(shù)字合成

精度:±50ppm

50kHz~160MHz

四位數(shù)顯,數(shù)字合成

精度:±50ppm

Q值測量范圍

1~1000

三位數(shù)顯,±1Q分辨率

1~1000

四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率

1~1000

四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率

可調(diào)電容范圍

40~500 pF

ΔC±3pF

28~490 pF

0.1pF分辨率

14~230 pF

0.1pF分辨率

電容測量誤差

±1%±1pF

±0.5%±0.5pF

±0.5%±0.5pF

Q表殘余電感值

約20nH

約20nH

約8nH

 

 

2.3 介質(zhì)損耗裝置: 

2.3.1 平板電容器極片尺寸:

    TE916D:Φ38mm和Φ50mm二種.

    TE915:Φ38mm .

2.3.2 平板電容器間距可調(diào)范圍和分辨率:
    TE916D:0~8mm±0.001mm

    TE915:0~8mm±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性:

    0.33 pF /mm±0.05 pF, 

2.3.4 圓筒電容器可調(diào)范圍:

    ±12.5mm(±4.2pF)

2.3.5 裝置插頭間距:

    25mm±0.1mm

2.3.6 裝置損耗角正切值:

    ≤2.5×10-4

 

2.4 電感器:
    按測試頻率要求,需要配置不同量的電感器。例如:在1MHz測試頻率時,要配100μH 或250μH 電感器,在50MHz測試頻率時,要配0.1μH電感器等。

2.5 高頻介質(zhì)樣品(選購件):
    在現(xiàn)行高頻介質(zhì)材料檢定系統(tǒng)中,檢定部門為高頻介質(zhì)損耗測量儀提供的測量標(biāo)準是高頻標(biāo)準介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍寶石,石英玻璃,氧化鋁陶瓷,聚四氟乙烯,環(huán)氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm測試樣品。用戶可按需訂購,以保證測試裝置的重復(fù)性和準確性。

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