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共聚焦顯微鏡技術原理
閱讀：2329 發布時間：2019-2-26
µsurf 共聚焦技術原理
基于NanoFocus CMP技術（共焦多針孔）的魯棒μsurf傳感器技術。在幾秒鐘內，獲得微觀和納米范圍內的形貌、粗糙度和層厚度。
SURF技術的功能原理
NanoFocus共聚焦顯微鏡包括LED光源、旋轉多針孔盤、帶有壓電驅動器的物鏡和CCD相機。LED源通過多針孔盤（MPD）和物鏡聚焦到樣品表面上，從而反射光。反射光通過MPD的針孔減小到聚焦的部分，這落在CCD相機上。來自傳統光學顯微鏡的圖像包含清晰和模糊的細節。相反，在共焦圖像中，通過多針孔盤的操作濾除模糊細節（未聚焦）。只有來自焦平面的光到達CCD相機。因此，共聚焦顯微鏡能夠在納米范圍內獲得高分辨率。
每個共焦圖像是通過樣品的形貌的水平切片。在不同的焦點高度捕獲圖像產生這樣的圖像的堆疊，通過共焦顯微鏡通過壓電驅動器通過物鏡的垂直位移來實現。200到400個共焦圖像通常在幾秒內被捕獲，之后軟件從共焦圖像的堆棧重建的三維高度圖像。
優勢
μsurf技術在微米和納米范圍的技術表面表征方面具有許多優點。
與SEM（X，Y）相反，μSURF提供真實三維坐標（x，y，z）中的數據。只有這種定量數據能夠地分析3D表面參數，從而提供關于表面紋理的更大范圍的信息。μSurf系統的測量不需要以前的樣品制備。
在許多工業部門中，標準的測量方法是觸覺掃描。國家標準與技術研究所（NIST）的獨立第三方研究表明，μSURF技術達到觸覺系統的高相關性（99%）。另外，被檢查材料的硬度的差異是不相關的，因為系統在沒有接觸和破壞表面的情況下工作。