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HAST高壓加速老化試驗箱 的96h和雙85的1000h的區(qū)別
點擊次數(shù)：122 發(fā)布時間：2025-5-6
HAST（高壓加速老化試驗箱，Highly Accelerated Temperature and Humidity Stress Test）的96小時測試與雙85測試（85℃/85%RH，1000小時）是兩種典型的加速老化試驗方法。
1. 核心差異速覽
| 維度 | HAST 96小時 | 雙85測試 1000小時 |
|---|---|---|
| 測試條件 | ||
| 加速機制 | ||
| 等效時間 | ||
| 測試周期 | 4天（快速驗證） | 42天（長期模擬） |
| 主要失效模式 | ||
| 成本 | ||
| 適用對象 |
2. 選擇決策樹
產品是否密封？
是 → 選 雙85測試（避免HAST高壓破壞封裝）。
否 → 進入下一步。
時間是否緊迫？
是 → 選 HAST 96小時（快速驗證，4天出結果）。
否 → 進入下一步。
關注失效類型？
電化學腐蝕/界面問題 → 選 HAST。
吸濕膨脹/長期老化 → 選 雙85。
預算是否充足？
是 → HAST（高壓設備投入）。
否 → 雙85（低成本長期測試）。
注意事項
HAST風險：避免用于氣密性封裝，高壓可能引發(fā)非真實破裂。
雙85局限：無法加速電化學腐蝕，需結合其他測試查漏。
HAST高壓加速老化試驗箱用 途：
主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCT主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。
技術特點：
◆ 真空泵浦設計(鍋爐內空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性；
◆ 超長效實驗運轉時間，長時間實驗機臺運轉300小時；
◆干燥設計，試驗終止采真空干燥設計確保測試區(qū)(待測品)的干燥；
◆ 水位保護，透過爐內水位Sensor檢知保護；
◆ 耐壓設計，箱體耐壓力(140℃)2.65kg，符合水壓測試6k；
◆二段式壓力安全保護裝置，采兩段式結合控制器與機械式壓力保護裝置；
◆ 安全保護排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕；
HAST高壓加速老化試驗箱技術規(guī)格：
型號 | SEST-S250 | SEST-S350 | SEST-S450 | SEST-S550 | |
工作室尺寸(cm) | ? 25×35 | ? 30×45 | ? 40×55 | ? 50×60 | |
性 | 溫度范圍 | 105～132℃ | |||
濕度范圍 | 100%RH飽和蒸汽（不可調）// 65%RH～100%RH非飽和蒸汽（可調） | ||||
溫度均勻度 | ≤2℃ | ||||
濕度均勻度 | ≤±5%RH | ||||
壓力范圍 | 1.2~2.89kg(含1atm) | ||||
加壓時間 | 約45/Min | ||||
溫度控制器 | 中文彩色觸摸屏+ PLC控制器（控制軟件自行開發(fā)） | ||||
循環(huán)方式 | 強制對流循環(huán)方式 | ||||
結構 | 標準壓力容器 | ||||
加濕系統(tǒng) | 電熱管 | ||||
加濕用水 | 蒸餾水或去離子水（自動補水） | ||||
電源 | AC380V 50Hz三相四線+接地線 | ||||
材料 | 外殼材料 | 冷軋鋼板靜電噴塑(SETH標準色) | |||
內壁材料 | SUS316不銹鋼板 | ||||
保溫材料 | 玻璃纖維棉 | ||||
電壓 | 220V～240V 50/60HZ單相 | ||||