體積表面電阻率測試儀——影響電阻測量精度的六大關鍵因素

閱讀：222發布時間：2025-3-21

影響電阻測量精度的六大關鍵因素

因素	影響機制	解決方案
測量時間	分布電容充電時間達數十分鐘（例：電纜測試中初始阻值偏低，60s后穩定）	設定定時測量（如GB/T 3048規定電纜測量時間60s）。
重復測量	殘余電荷疊加（導致二次測量阻值↑30%以上）	測量為基準，重復測試需放電≥30分鐘。
電壓選擇	高電壓激活材料漏電流（1000V比100V測值低50%）	根據標準選擇電壓（如IEC 60243規定絕緣材料測試電壓梯度1kV/mm）。
溫度波動	半導體反向漏電流隨溫度↑8℃翻倍（硅材料特征）。	恒溫實驗室（±1℃），數據換算至標稱溫度（如25℃）。
濕度干擾	表面吸濕（濕度↑60%→表面電阻↓100倍）。	預干燥處理（50℃烘箱2h）+實時濕度監控。
環境電磁干擾	電磁場感應電流（電焊機啟動時噪聲電流達10?1?A）	雙重屏蔽室、低噪聲同軸電纜（屏蔽層接地阻抗＜1Ω）。

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