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亞微米粒徑電位檢測儀為實驗室的研究提供好的分析技術
亞微米粒徑電位檢測儀為實驗室的研究提供好的分析技術
亞微米粒徑電位檢測儀采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒度分析復合采用單峰算法和擁有技術的多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有*優勢，其的解析度及重現性是其他同類產品*的。
亞微米粒徑電位檢測儀整機采用模塊化設計，可靈活方便地擴展電位等其它功能，是納米粒徑分析儀器，采用現在的動態光散射原理，利用的多峰算法可以很的分析比較復雜多組分混合樣品。為實驗室的研究提供好的分析技術。亞微米粒徑電位檢測儀采用動態光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3 nm- 10μm。亞微米粒徑電位檢測儀采用單峰算法和擁有技術的多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有*優勢，其的解析度及重現性是其他同類產品*的。
亞微米粒徑電位檢測儀集原樣進樣檢測、自動稀釋等全自動檢測功能于一身，為用戶提供可方便、快捷、、可靠的粒徑分析，是性的顆粒計數器系列產品。亞微米粒徑電位檢測儀采用動態光散射原理檢測分析顆粒的粒度分布，主要用于檢測納米級別的膠體體系，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有*優勢，其的解析度及重現性是其他同類產品*的。
亞微米粒徑電位檢測儀基線調整自動補償功能和高分辨率多峰算法是亞微米粒徑電位檢測儀所*的兩個主要特點，通過多年在不同領域的實踐證明，亞微米粒徑電位檢測儀可以有效區分開相鄰峰，也可以識別并剔除少數較大粒子造成的雜峰。亞微米粒徑電位檢測儀結合了動態光散射和電泳光散射的技術，能同時實現檢測粒徑和電位的功能，并使用大功率的激光光源，為檢測提供了更高的度，真正做到直接檢測而無需校正，并獲得更高的分辨率及重現性。