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分析電子件上的金和鈀的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu
測量線路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy
電鍍表面處理的多樣品和多點分析
單層或多層厚度測量
鍍液成份分析
黃金分析及其他元素測定
貴金屬合金檢測
產品簡介
詳細介紹
利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質量控制。
X-Strata鍍層測厚儀是結構緊湊、堅固耐用、用于質量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
- 無損分析：無需樣品制備
- 經行業認證的技術和可靠性，確保每年都帶來收益
- 操作簡單，只需要簡單的培訓
- 分析只需三步驟
- 杰出的分析準確性和精確性
- 在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經驗
鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質量的同時降低成本。
電子行業 - 有效控制生產過程，提高生產力
- 分析電子件上的金和鈀的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu
- 測量線路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy
五金電鍍行業 - 電鍍表面處理的成本zui小化，產量zui大化
- 多樣品和多點分析
- 單層或多層厚度測量
- 鍍液成份分析
貴金屬/金屬合金 - 珠寶及其他合金的快速無損分析
- 黃金分析及其他元素測定
- 貴金屬合金檢測
*性檢測 - 確保產品符合規格
- 測定有害物質從ppm級到高百分比級
- 有毒元素定量分析，例如檢測鎘、汞、鉛等含量是否符合規定
X-Strata920 - 三種配置滿足您的需要：
固定樣品臺
- 開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
- 經濟、實用
- 平面樣品臺設計，適合高度不超過1.3"(33mm)的樣品分析
加深樣品臺
- 高度每英寸(25.4mm)可調，架構式樣品艙可容納zui大高度6.3"(160mm)的樣品
- 可以選4個樣品盤中任一個來盛放不同高度的樣品
- 開槽式樣品艙允許檢測從小部件到大型平板樣品等各種樣品，如印制線路板。樣品的尺寸可以超出儀器寬度
程控樣品臺
- 用于自動化測量
- 方便根據測試位置放置樣品，并精準定位測量點
- 開槽式樣品艙允許檢測大型平板樣品，如印制線路板
- 樣品臺尺寸：22"(D) x 24"(w)，即560mm (深) x 610mm (寬)