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Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀
  • Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀
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更新時(shí)間:2025-04-22 11:18:24

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基于D8衍射儀系列平臺(tái)的D8 ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,如:

典型的X射線粉末衍射(XRD)

對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析

小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)

由于具有出色的適應(yīng)能力,僅使用D8 ADVANCE,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。

無(wú)論是新手用戶還是專家用戶,都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更

Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀

D8 ADVANCE 規(guī)格:

功能

規(guī)格

優(yōu)勢(shì)

TRIO 光路和TWIN光路

軟件按鈕切換:

馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫(BB幾何)

高強(qiáng)度Ka1,2平行光束

高分辨率Ka1平行光束

可在多達(dá)6種不同的光束幾何之間進(jìn)行全自動(dòng)化電動(dòng)切換,無(wú)需人工干預(yù)

是所有類型的樣品分析的理想之選,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)

動(dòng)態(tài)光束優(yōu)化

動(dòng)態(tài)同步:

馬達(dá)驅(qū)動(dòng)發(fā)散狹縫

馬達(dá)驅(qū)動(dòng)防散射屏

可變探測(cè)器窗口

2?角度范圍:小于1度至>大于150度

數(shù)據(jù)幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響

大大提高了檢測(cè)下限,可定量分析少量晶相和非晶相

在較小的2θ角度,可對(duì)粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進(jìn)行精確研究

LYNXEYE XE-T

能量分辨率:<380 eV @ 8 KeV

檢測(cè)模式:0D、1D、2D

波長(zhǎng):Cr、Co、Cu、Mo和Ag


無(wú)需K?濾波片和二級(jí)單色器

銅輻射即可100%過濾鐵熒光

速度比傳統(tǒng)探測(cè)器系統(tǒng)快450倍

BRAGG 2D模式:使用發(fā)散的初級(jí)線束收集2D數(shù)據(jù)

探測(cè)器保證:交貨時(shí)無(wú)壞道

EIGER2 R

Dectris 公司開發(fā)的基于混合光子計(jì)數(shù)技術(shù)的新一代探測(cè)器,支持多種模式(0D / 1D / 2D)

在步進(jìn)掃描、連續(xù)掃描和高級(jí)掃描模式中無(wú)縫集成0D、1D和2D檢測(cè)

符合人體工程學(xué)的免對(duì)準(zhǔn)探測(cè)器旋轉(zhuǎn)功能,可優(yōu)化γ或2?角度范圍

使用完整的探測(cè)器視野、免工具全景衍射光束光學(xué)系統(tǒng)

連續(xù)可變的探測(cè)器位置,以平衡角度范圍和分辨率

旋轉(zhuǎn)光管

在線焦斑和點(diǎn)焦斑應(yīng)用之間輕松快捷地進(jìn)行免對(duì)準(zhǔn)切換

無(wú)需斷開電纜或水管,無(wú)需拆卸管道

DAVINCI設(shè)計(jì):全自動(dòng)檢測(cè)和配置聚焦方向

自動(dòng)進(jìn)樣器

FLIPSTICK:9個(gè)樣品

AUTOCHANGER:90個(gè)樣品

在反射和透射幾何中運(yùn)行

D8 測(cè)角儀

帶獨(dú)立步進(jìn)電機(jī)和光學(xué)編碼器的雙圓測(cè)角儀

布魯克準(zhǔn)直保證,確保了準(zhǔn)確性和精確度

免維護(hù)的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)/齒輪裝置,終身潤(rùn)滑

非環(huán)境條件

溫度:從~85K到~2500K

壓力:10-?mbar至100 bar

濕度:5%至95%

在環(huán)境和非環(huán)境條件下進(jìn)行研究

DIFFRAC設(shè)計(jì)助您輕松更換樣品臺(tái)


基于D8衍射儀系列平臺(tái)的D8 ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應(yīng)用的理想之選,如:

  • 典型的X射線粉末衍射(XRD)

  • 對(duì)分布函數(shù)(PDF)分析

  • 小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)

由于具有出色的適應(yīng)能力,僅使用D8 ADVANCE,您就可對(duì)所有類型的樣品進(jìn)行測(cè)量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。

無(wú)論是新手用戶還是專家用戶,都可簡(jiǎn)單快捷、不出錯(cuò)地對(duì)配置進(jìn)行更改。這都是通過布魯克的DAVINCI設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的:配置儀器時(shí),免工具、免準(zhǔn)直,同時(shí)還受到自動(dòng)化的實(shí)時(shí)組件識(shí)別與驗(yàn)證的支持。


應(yīng)用范圍:

相鑒定:材料可靠性鑒別(PMI)最為常見,這是因?yàn)槠鋵?duì)原子結(jié)構(gòu)十分靈敏,而這無(wú)法通過元素分析技術(shù)實(shí)現(xiàn)。

定量相分析:方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRACTOPAS軟件全譜擬合分析法

非環(huán)境 XRD:可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測(cè)量同步,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結(jié)果

織構(gòu)分析:在DIFFRAC.TEXTURE軟件中,使用球諧函數(shù)和組分分析方法,生成極圖、取向分布函數(shù)(0DF)和體積定量分析。

殘余應(yīng)力分析:在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應(yīng)力:通過sin2psi方法,使用Cr輻射測(cè)量得到。

X射線反射法(XRR):在DIFFRAC.LEPTOS中,對(duì)多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進(jìn)行XRR分析。

小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,對(duì)EIGER2R500K通過2D模式收集的NIST標(biāo)樣SRM 80119nm金納米顆粒進(jìn)行粒度分析。



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