高低溫沖擊試驗箱主要用來測試材料廣泛用于如：航天航空、科學研究、金屬、連接器、光電光纖、LED模組、LCD、電路板、航天航空、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測試設備，用于測試材料結構或復合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在zui短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。
　　1、試驗目的：確定測試產(chǎn)品在周圍大氣溫度急劇變化時的適應性及被破壞性。
　　2、試驗條件：高溫箱：RT～150℃，低溫箱：RT～-40℃ RT～-55℃ RT～-65℃，試驗溫度保持時間：1h或者直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定，以時間長者為準,循環(huán)次數(shù)：針對各個不同行業(yè)不同廠家所對應的試驗要求不一樣，按照標準上的試驗方法測試。
　　3、恢復：測試產(chǎn)品從冷熱沖擊箱內取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩(wěn)定。
　　4、高低溫沖擊試驗箱符合標準：
　　GB10592、GJB150.3、GJB150.4、GB/T2423.1.2、GB/T2423.2、GJB150.9-1986、GB/T5170.2-96《溫度試驗設備》、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗的要求、GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法、電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）等標準。
　　5、高低溫沖擊試驗箱要求：
　　a.采用高溫箱和低溫箱進行冷熱沖擊試驗,以提供試驗樣品經(jīng)受周圍空氣溫度急劇發(fā)生變化的環(huán)境溫度。
　　b.高溫區(qū)的要求,應符合GJB150.3-86《jun用設備環(huán)境試驗方法高溫試驗》的第3章各條所規(guī)定的要求。
　　c.低溫區(qū)的要求，應符合GJB150.4-86《jun用設備環(huán)境試驗方法低溫試驗》的第3章各條所規(guī)定的要求。
　　d.提供高溫試驗部分和低溫試驗部分,應分別符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各條所規(guī)定的要求。
　　e.試驗箱的容積應保證在試驗樣品放入候補超過試驗溫度保持時間的10%就能使試驗箱(室)溫度達到GJB150.1-89中3.2條規(guī)定的試驗條件容差范圍之內。
　    低溫區(qū)、高溫區(qū)轉換時間≤15s。
       溫度恢復時間≤5min。

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