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產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
半導(dǎo)體封裝材料4英寸真空探針臺(tái)帶顯微鏡
半導(dǎo)體封裝材料4英寸真空探針臺(tái)帶顯微鏡產(chǎn)品參數(shù)：
腔體
型號(hào)：CGO-4
樣品臺(tái)尺寸：4英寸
樣品固定：樣品固定
觀察窗口：4英寸
真空度：10-6 torr
探針臂接口：最多6個(gè)探針臂接口
其他接口：電信接口、真空接口、光纖接口、冷源接口
制冷方式：制冷機(jī)
控制方式：閉循環(huán)自動(dòng)控制
溫度范圍：4.5K ~ 450K
溫度分辨率：0.1K / 0.01K / 0.001K
穩(wěn)定性：±1K / ±0.1K / ±0.01K
顯微鏡
X-Y-Z 移動(dòng)行程：50mm×25mm×13mm
結(jié)構(gòu)：外置探針臂，真空波紋管結(jié)構(gòu)
移動(dòng)精度：10μm / 1μm
光源：外置LED環(huán)形光源 / 同軸光源
CCD：200萬像素 / 500萬像素 / 1200萬像素
探針座
X-Y-Z 移動(dòng)行程：X-Y-Z 移動(dòng)行程
結(jié)構(gòu)：外置探針臂，真空波紋管結(jié)構(gòu)
移動(dòng)精度：10μm / 1μm
探針夾具
線纜：同軸線 / 三軸線 / 射頻線
漏電精度：10pA / 100fA / 10fA
固定探針：彈簧固定 / 螺絲固定
接頭類型：BNC / 三軸 / 香蕉頭 / 鱷魚夾 / 接線端子/ 射頻接口
探針
射頻支持：DC-67GHZ
針尖直徑：0.2μm / 1μm / 2μm / 5μm / 10μm/ 20μm / 50μm / 100μm
材質(zhì)：鎢鋼 / 鈹銅
真空組件：分子泵組 / 機(jī)械泵
冷源組件：50L / 100L 液氮罐 / 液氦罐 / 制冷機(jī)
外形重量：730mm×750mm×1265mm（長(zhǎng)寬高） 約100kg
防震桌參數(shù)：
阻尼隔振防震桌
隔振方式:高級(jí)復(fù)合材料隔振
材質(zhì):不銹鋼 / 碳鋼
平面度:0.05mm / m2
粗糙度:＜0.8μm
孔距:25×25mm
孔徑:M6
平臺(tái)尺寸（長(zhǎng)寬):可定制
平臺(tái)厚度：50 / 100 / 200mm
固有頻率:6Hz - 8Hz
支撐腿:阻尼支撐腿
支撐腿數(shù)量:4個(gè) / 6個(gè)
支撐腿高度:800mm±10mm
其他:內(nèi)芯采用蜂窩支撐、表面密迪紋處理、支撐腳可選腳輪、特殊尺寸可定制
