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產(chǎn)品分類(lèi)品牌分類(lèi)
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
華測(cè)儀器依托多年高壓控制、測(cè)試方面多年的技術(shù)成果，保護(hù)：增加TVS保護(hù)過(guò)壓、過(guò)流、過(guò)溫等技術(shù)，與可靠。軟件設(shè)計(jì)：在測(cè)試功能、數(shù)據(jù)處理、操作人性化等方面做了大量的改進(jìn)；測(cè)量精度：做了大量的測(cè)試對(duì)標(biāo)；進(jìn)行檢測(cè)計(jì)量。保證數(shù)據(jù)的有效與真實(shí)。
一、設(shè)備優(yōu)勢(shì)
本套系統(tǒng)可完成功能材料鐵電、壓電、熱釋電、介電、絕緣電阻等電學(xué)測(cè)試，以及高、低溫環(huán)境下的電學(xué)測(cè)試。與電學(xué)檢測(cè)儀器在通訊協(xié)議、數(shù)據(jù)庫(kù)處理、軟件兼容性做了大量的接口。無(wú)論在軟件與硬件方面，使本套儀器在未來(lái)易于擴(kuò)展。節(jié)省改造時(shí)間與硬件成本。
二、研發(fā)優(yōu)勢(shì)
研發(fā)團(tuán)隊(duì)擁有多領(lǐng)域、多學(xué)科的博士、碩士專(zhuān)業(yè)技術(shù)人員，他們致力于材料電學(xué)、電力電子、信號(hào)、測(cè)控、精密加工方面的研究，自成立以來(lái)獲多方科研機(jī)構(gòu)、大學(xué)試驗(yàn)室支持,聘請(qǐng)多個(gè)院校的專(zhuān)家教授，組建“華測(cè)儀器專(zhuān)家顧問(wèn)團(tuán)"。
三、定制化服務(wù)
電學(xué)試驗(yàn)室擁有泰克、是德科技品牌大批檢測(cè)設(shè)備；生產(chǎn)制造方面，公司有4軸、5軸CNC加工中心、超精磨床等一大批生產(chǎn)、加工設(shè)備，ISO9001質(zhì)量體系認(rèn)證，在工裝、夾具定制化方面方便、高效。
HCTD3000鐵電測(cè)試系統(tǒng)具有寬頻率響應(yīng)范圍及寬測(cè)試電壓范圍，性?xún)r(jià)比非常高，滿(mǎn)足了用戶(hù)追求高性?xún)r(jià)的需求。主機(jī)內(nèi)置電壓檔位有±10V，±30V，±100V，±200V和±500V可選。在±10V的內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率達(dá)到2MHz；在±500V的內(nèi)置電壓下，電滯回線測(cè)試頻率達(dá)到±2kHz。此系統(tǒng)還可外部擴(kuò)展電壓到4kV和10kV，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電和磁電測(cè)試功能。此系統(tǒng)包含Vision基本鐵電管理測(cè)試軟件。此外還可外部擴(kuò)展電壓到4kV和10kV，Premier II在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線，脈沖，漏電流，IV和CV測(cè)試，也可加載選件實(shí)現(xiàn)壓電、熱釋電、磁電測(cè)試和晶體管特性測(cè)試功能。
四、標(biāo)準(zhǔn)配置
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率；
PUND 脈沖測(cè)試：小脈沖寬度2μs，小上升時(shí)間1 μs；Fatigue 疲勞測(cè)試,大頻率300kHz；
Retention 保持力測(cè)試；
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試；
Imprint 印跡；
Leakage current 漏電流測(cè)試：100fA to 1A
