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激光測振儀 傳感器多功能綜合測試系統(tǒng) 先進功能材料電測綜合測試系統(tǒng) 長期耐腐蝕老化試驗平臺- 高電場介電、損耗、漏電流測試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數測試儀 高溫介電溫譜測試儀 熱釋電測試儀 TSDC熱刺激電流測試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺 簡易探針臺 高溫四探針測試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學綜合測試系統(tǒng) 高溫管式爐測試儀 漆包線擊穿耐壓試驗儀 電化學遷移測試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測定機 陶瓷材料閃燒試驗裝置 導通電評估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
產品簡介
詳細介紹
功能材料電學綜合測試系統(tǒng)
鐵電參數測試功能
Dynamic Hysteresis 動態(tài)電滯回線測試頻率;Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試；
PUND 脈沖測試；Fatigue 疲勞測試；Retention保持力；
Imprint印跡；Leakage current漏電流測試；Thermo Measurement 變溫測試功能。
壓電參數測試功能
可進行壓電陶瓷的準靜態(tài)d33等參數測試，也可通過高壓放大器與位移傳感器（如激光干涉儀）動態(tài)法測量壓電系數測量。
熱釋電測試功能
主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電測試。采用電流法進行測量材料的熱釋電電流、熱釋電系數、剩余極化強度對溫度和時間的曲線。
薄膜材料變溫范圍：-196℃到+600℃；
塊體材料變溫范圍：室溫到200℃、室溫到600℃、室溫到800℃
介電溫譜測試功能
用于分析寬頻、高低溫環(huán)境條件下功能材料的阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、因數Q等物理量，同時還可以分析被測樣品隨溫度、頻率、時間、偏壓變化的曲線。也可進行壓電陶瓷的居里溫度測試。
熱激發(fā)極化電流測試儀 TSDC
用于研究材功材料的一些關鍵因素，諸如分子弛豫、相轉變、玻璃化溫度等等，通過TSDC技術也可以比較直觀的研究材料的弛豫時間、活化能等相關的介電特性。
絕緣電阻測試功能
高精zhun度的電壓輸出與電流測量，保障測試的，適用于功能材料在高溫環(huán)境材料的數據的檢測。例如：陶瓷材料、硅橡膠測試、PCB、云母、四氟材料電阻測試、也可做為科研院所新材料的高溫絕緣電阻的測試。
高溫四探針測試功能
符合功能材料導體、半導體材料與其它新材料在高溫環(huán)境下測試多樣化的需求。雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國A.S.T.M標準。也可應用于產品檢測以及新材料電學研究等用途。
塞貝克系數/電阻測量系統(tǒng)
適用于半導體，陶瓷材料，金屬材料等多種材料的多種熱電分析；可根據用戶需求配置薄膜測量選件，低溫選件溫度范圍-100℃到200℃，高阻選件高至10MΩ。
電卡效應測試功能
還可以用于測試材料在寬溫度范圍內的電卡。
溫度范圍：-50℃到200℃、熱流時間范圍：1s-1000s，大電壓可達10kV，
波形：用戶自定、脈沖、三角波、正弦波、任意波形、預定義波形。
功能材料電學綜合測試系統(tǒng)