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EM5030 是一款主要用于查找干擾源，判定干擾產生原因的高性價比近場探頭。可用來檢測器件表面的磁場方向以及強度；檢測磁場耦合的通道，從而調整連接器位置；檢測模塊附近的磁場環境。為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場探頭測量可以很方便地實現定位功能。通過配合本公司的EM5020前置放大器可以提高系統測試靈敏度。大大的減少產品的研發周期，減少往返實驗室的時間和金錢，減少不必要的錯誤測試。 EM5030近場探頭就是解決問題的利器！
型號 | 說明 | 特性 |
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磁場近場探頭，可檢查10cm范圍內的磁場。 |
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磁場近場探頭，可檢查3cm范圍內的磁場。 |
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磁場近場探頭，主要用于線纜電磁泄漏測試。 |
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磁場近場探頭，可檢測垂直方向發射的電磁場 。 |
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