微區(qū)掃描電化學(xué)是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的，進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)。微區(qū)掃描電化學(xué)是提供給電化學(xué)及材料測(cè)試以*空間分辨率的一個(gè)測(cè)試平臺(tái)。每個(gè)都具有高分辨率，長(zhǎng)工作距離的閉環(huán)定位系統(tǒng)并安裝于抗震光學(xué)平臺(tái)上。不同的輔助選件都安裝于定位系統(tǒng)上，輔助選件包括，如電位計(jì)，為不同掃描探針試驗(yàn)，定位系統(tǒng)提供不同的功能。

微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是實(shí)驗(yàn)室中常用的儀器設(shè)備，在長(zhǎng)期的使用過(guò)程中，其出現(xiàn)問(wèn)題是在所難免的。微區(qū)掃描電化學(xué)工作站常見(jiàn)的問(wèn)題和解決方法如下：

1、軟件無(wú)法打開(kāi)。請(qǐng)確認(rèn)儀器電源是否打開(kāi)，電腦連接網(wǎng)線是否完好，IP地址是否正確，其他接線是否正常；

2、掃描器與平臺(tái)連接后發(fā)出聲響。確認(rèn)是否更新掃描器參數(shù)；積分增益和比例增益不宜過(guò)大；

3、進(jìn)針異常。確認(rèn)掃描器和樣品是否導(dǎo)通，掃描器接上平臺(tái)，探針與接線是否連接正確；軟件是否處于STM掃描隧道模式，各項(xiàng)參數(shù)是否正常，反饋控制選擇對(duì)數(shù)；

4、一直處于進(jìn)針未完成狀態(tài)。常見(jiàn)的溶液進(jìn)針問(wèn)題，經(jīng)常處于進(jìn)針未完成狀態(tài)，可以適當(dāng)間隔0.2調(diào)高偏壓再嘗試進(jìn)針；探針已損壞，請(qǐng)更換新的探針；

5、定位點(diǎn)STM掃描時(shí)進(jìn)針異常。探針是否處于溶液當(dāng)中，先退針退出溶液再進(jìn)針；

6、STM測(cè)試出現(xiàn)圖像異?；驍鄬?。確保周?chē)鸁o(wú)震動(dòng)或噪音；

7、微區(qū)掃描時(shí)平臺(tái)沒(méi)有走動(dòng)。確認(rèn)工作模式是否處于微區(qū)電位狀態(tài)下；步進(jìn)電機(jī)是否打開(kāi)，接線是否正常；

8、微區(qū)掃描圖像未顯示或圖像為黑色。確認(rèn)本底扣除是否勾選上，放大倍數(shù)是否正確；

9、SRET掃描時(shí)，電機(jī)噪聲太大。確認(rèn)掃描速率是否過(guò)大，掃描范圍是否太大。