微區掃描電化學是一個建立在電化學掃描探針的設計基礎上的，進行超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區形貌及電化學微區測試系統。微區掃描電化學是提供給電化學及材料測試以*空間分辨率的一個測試平臺。每個VersaSCAN都具有高分辨率，長工作距離的閉環定位系統并安裝于抗震光學平臺上。不同的輔助選件都安裝于定位系統上，輔助選件包括，如電位計，壓電振動單元，或者激光傳感器，為不同掃描探針試驗，定位系統提供不同的功能。VersaSTAT恒電位儀和Signal Recovery 7230鎖相放大器和定位系統整合在一起，由以太網來控制，保證小信號的測量。微區掃描電化學在掃描探針電化學領域中是一個全新的概念，以超高分辨率，非接觸式，空間分析電化學測量的特點而設計。

微區掃描電化學是集電化學分析方法于一體的電化學通用儀器。微區掃描電化學能完成線性伏安、循環伏安、階梯伏安、脈沖伏安、方波伏安等電化學分析方法，還可以完成恒電位極化、恒電流極化，電位、電流、電量階躍和塔菲爾圖、交流阻抗等多項電化學測試功能。微區掃描電化學是在電化學工作站的基礎上加大輸出電流，提高掃描速度，提高電位、電流分辨率，微區掃描電化學在電化學測試方法上增加了脈沖電鍍方法、多種交流測試方法而成。微區掃描電化學系統軟件為方便使用者提供了強大的功能，包括文件管理，全面的實驗控制，靈活的圖形顯示，方便的圖形放大、縮小和還原，位圖圖形和數據的導出，多種數據處理功能。

微區掃描電化學是一個精密的掃描微電極系統，具有*空間分辨率。微區掃描電化學在溶液中可檢測電流或施加電流于微電極與樣品之間。微區掃描電化學具有互補性，微區掃描電化學是對溶液中樣品表面進行原子級和納米級成像分析，微區掃描電化學和EC-AFM更多地展現了電化學過程的表面物理圖像。而SECM則用于檢測、分析或改變樣品在溶液中的表面和界面化學性質。微區掃描電化學具有高分辨率、易操作、測試樣品更接近實際應用情況等特點，適用于分析研究各種實時和原位的電化學反應過程。微區掃描電化學和EC-AFM強調的是結果，而微區掃描電化學注重的是過程和結果。微區掃描電化學主要測量材料在液體電解質環境下的局部電化學反應過程；SKP能夠測量材料在不同濕度大氣環境下，甚至其它氣體環境下的微區特性及其隨環境變化過程等。