減少生產(chǎn)測試時(shí)間

加快測量速度

通過引入CW光專用靈敏度模式[RAPID]，相較于以往機(jī)型，測量速度可提高多達(dá)20倍。這將縮短光譜測量所需的時(shí)間，提高生產(chǎn)效率。

與傳統(tǒng)機(jī)型相比
參考值跨度為100nm，25001個(gè)采樣點(diǎn)，平均值為1，噪聲水平約為?60 dBm

生產(chǎn)線空間優(yōu)化

AQ6361體積不到AQ6370E的一半，可以成對安裝在標(biāo)準(zhǔn)機(jī)架上。這有助于降低復(fù)雜生產(chǎn)線和芯片測試儀所占用的體積，從而優(yōu)化空間。

適用于各種光模塊

根據(jù)測量應(yīng)用，可以選擇從0.03nm(高性能機(jī)型)到2nm的波長分辨率。此外，AQ6361還能提供高動態(tài)范圍測量，具有73dB的出色雜散光抑制性能(高性能機(jī)型)。

ITLA的光譜