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ZHIT 技術用于EIS數(shù)據(jù)可靠性驗證和重建

閱讀:369      發(fā)布時間:2022-05-05
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   電化學阻抗譜(EIS)是一種廣泛應用于許多電化學領域的實驗方法。盡管現(xiàn)代計算機技術使其應用變得非常容易,但用戶必須認真處理好EIS測試的基本條件,才能得到可靠的結果。其中一個重要條件就是研究對象的穩(wěn)定性。并不是所有研究對象例如,電,也不是在所有條件下(例如,長時間測量都能保證測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性,在這些情況下測量的數(shù)據(jù)可能會不可靠從而導致誤解。然而在大多數(shù)情況下,并不能簡單的看出測量數(shù)據(jù)的可靠性。

         Zahner ZHIT 算法是一種能夠驗證數(shù)據(jù)可靠性的工具,此外它還能從測量的相位數(shù)據(jù)中重建其阻抗數(shù)據(jù)。


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環(huán)球君業(yè)(北京)科技有限公司

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