電池和電池堆在交流阻抗測試過程中，由于狀態(tài)的飄移這種物理現(xiàn)象會導致對交流阻抗的解析和產(chǎn)品的優(yōu)化造成誤判，使用平行阻抗測試技術(shù)和Z-HIT交流阻抗譜圖重建技術(shù)會保證交流阻抗的解析的準確性，從而對產(chǎn)品研發(fā)提供準確的數(shù)據(jù)依靠。
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