測(cè)量功能豐富：能進(jìn)行多種基本測(cè)量，包括幅度 / 相位、插入損耗、電長度、增益壓縮和群延遲等。搭配 HP 35677A/B S 參數(shù)測(cè)試套件，還可在 50 或 75 歐姆系統(tǒng)中測(cè)量回波損耗、反射系數(shù)和阻抗。

測(cè)量精度高：具有高分辨率，可達(dá) 0.001dB、0.005 度、1ps 和 0.001Hz，能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量，可精確描述濾波器、放大器、晶體器件和通信、電信、消費(fèi)電子等領(lǐng)域中使用的子系統(tǒng)的特性。

具備誤差校正功能：內(nèi)置三項(xiàng)誤差校正和歸一化功能，可提高測(cè)量的準(zhǔn)確性和可靠性。

顯示模式多樣：支持幅度、相位、極坐標(biāo)、實(shí)部、虛部和群延遲等多種顯示模式，方便用戶根據(jù)不同的需求和測(cè)量場(chǎng)景選擇合適的顯示方式，更直觀地觀察測(cè)量結(jié)果。

操作便捷：具有便捷的功能，如直接繪圖儀控制和矢量數(shù)學(xué)函數(shù)，方便用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析。還可通過軟鍵選擇測(cè)量功能，能快速測(cè)量傳遞函數(shù)、幅度 / 相位、插入損耗 / 增益、衰減、電長度和增益壓縮等參數(shù)，同時(shí)可高分辨率測(cè)量相位失真參數(shù)，如群延遲和線性相位偏差。

輸入阻抗靈活：接收器輸入阻抗靈活，可在 50 歐姆或高阻抗（1 兆歐）環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量，適應(yīng)不同的測(cè)試環(huán)境和被測(cè)設(shè)備的要求。